[发明专利]一种EDA验证阶段的寄存器测试方法有效
| 申请号： | 201711067061.X | 申请日： | 2017-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN107885925B | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 常迎辉;张俊杰;曾明;沈贵元;赵月明 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十四研究所 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398 |
| 代理公司： | 河北东尚律师事务所 13124 | 代理人： | 王文庆 |
| 地址： | 050081 河北省石家庄*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种EDA验证阶段的寄存器测试方法，属于集成电路开发技术领域。其包括组建寄存器测试平台、编写寄存器测试程序以及寄存器测试等步骤。本发明测试过程中，寄存器测试程序减少了对测试场景的依赖性，可贯穿整个EDA验证阶段，并实现了最大化的随机测试，是对现有技术的一个重要改进。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 eda 验证 阶段 寄存器 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种EDA验证阶段的寄存器测试方法，其特征在于，用于对待验证设计进行寄存器测试，包括以下步骤：（1）基于VMM验证方法学构建验证环境，抽象RAL寄存器模型，组建寄存器测试平台；（2）运行测试向量开始仿真，在仿真的同时并行地调用寄存器测试程序对寄存器进行测试，检查测试向量是否正确完成；（3）若步骤（2）所做测试正常完成，且测试向量正确完成，则待验证设计通过测试。
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