[发明专利]一种EDA验证阶段的寄存器测试方法

权利要求书

1.一种EDA验证阶段的寄存器测试方法，其特征在于，用于对待验证设计进行寄存器测试，包括以下步骤：

（1）基于VMM验证方法学构建验证环境，抽象RAL寄存器模型，组建寄存器测试平台；

（2）运行测试向量开始仿真，在仿真的同时并行地调用寄存器测试程序对寄存器进行测试，检查测试向量是否正确完成；

（3）若步骤（2）所做测试正常完成，且测试向量正确完成，则待验证设计通过测试；

所述步骤（2）中的寄存器测试程序包括以下测试方法：

（201）读写类型寄存器干扰测试：根据测试向量筛选本测试场景无关的读写类型寄存器，然后以随机间隔的方式对此类型寄存器进行随机类型的操作，校验随机类型操作中读/写数据的正确性；

（202）只读类型寄存器干扰测试：用随机数以随机间隔的方式对此类型的寄存器进行写操作，同时根据测试向量读取此寄存器的内容并进行正确性校验；

（203）只写类型寄存器干扰测试：根据测试向量筛选本测试场景无关的只写类型寄存器，然后以随机间隔的方式对此类型寄存器进行随机类型的操作；

（204）1次写类型寄存器干扰测试：以随机间隔的方式对此类型寄存器进行随机类型的操作，将读出数据值与该寄存器复位后首次写入的数据进行比较，进行正确性检查；

（205）读清类型寄存器干扰测试：在保证此读清寄存器功能正常的前提下，用随机数以随机间隔方式对此类型寄存器进行写操作；

（206）写1清类型寄存器干扰测试：以随机间隔的方式对此类型寄存器进行随机类型的操作，根据测试向量的场景对读出来的数据进行正确性检查；

所述随机类型的操作是指在读和写两种操作类型中随机地选择其一进行操作；步骤（201）、（203）和（204）中，进行写操作时写入的是一个随机数；步骤（206）中，进行写操作时写入的是0。