[发明专利]制备导电薄膜的方法在审

专利信息
申请号: 201711020461.5 申请日: 2017-10-27
公开(公告)号: CN107863200A 公开(公告)日: 2018-03-30
发明(设计)人: 王红丽 申请(专利权)人: 成都天航智虹知识产权运营管理有限公司
主分类号: H01B13/00 分类号: H01B13/00;H01B5/14;H01L51/56;H01L51/52
代理公司: 成都天嘉专利事务所(普通合伙)51211 代理人: 史姣姣
地址: 610094 四川省成都市自由贸易试验区*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种制备导电薄膜的方法,属于导电薄膜生产技术领域。所述方法包括以下步骤一种制备导电薄膜的方法,包括以下步骤A.沉积金属铜层在洁净、干燥的玻璃板上沉积5‑10nm的金属铜层;B.沉积石墨烯层采用CVD法沉积石墨烯薄膜层,所述石墨烯薄膜层的厚度为40~50μm;所述CVD法沉积过程中,碳源为甲烷,气体为体积比为2~51的H2和He的混合气体;所述甲烷与混合气体的体积比为8~101;C.干燥将步骤B得到的半成品进行干燥即可。与现有技术相比,本发明具有生产成本低,制备方法简单,透光率高优点。
搜索关键词: 制备 导电 薄膜 方法
【主权项】:
制备导电薄膜的方法,其特征在于:包括以下步骤:A.沉积金属铜层在洁净、干燥的玻璃板上沉积5‑10nm的金属铜层;B、制备氧化石墨烯薄膜层在金属铜层上涂布氧化石墨烯水溶液,在60~90℃条件下烘干,形成厚度为20~30μm的氧化石墨烯薄膜层;C.沉积石墨烯层采用CVD法在氧化石墨烯薄膜层上沉积石墨烯薄膜层,所述石墨烯薄膜层的厚度为40~50μm;所述CVD法沉积过程中,碳源为甲烷,气体为体积比为2~5:1的H2和He的混合气体;所述甲烷与混合气体的体积比为8~10:1;D.干燥将步骤C得到的半成品进行干燥即可。
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