[发明专利]半导体制程方法在审
申请号: | 201711000103.8 | 申请日: | 2017-10-24 |
公开(公告)号: | CN109326534A | 公开(公告)日: | 2019-02-12 |
发明(设计)人: | 陈科维;陈志宏 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/306;B24B37/04 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 李昕巍;章侃铱 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种半导体制程方法,包括在一研磨垫上研磨一晶圆,使用一垫修整器的一碟盘对研磨垫进行修整,以及将一热交换介质导入碟盘。被导入碟盘的热交换介质的温度不同于研磨垫的温度。 | ||
搜索关键词: | 研磨垫 碟盘 半导体制程 热交换介质 垫修整器 研磨 晶圆 修整 | ||
【主权项】:
1.一种半导体制程方法,包括:在一研磨垫上研磨一晶圆;使用一垫修整器的一碟盘对该研磨垫进行修整;以及将一热交换介质导入该碟盘,其中被导入该碟盘的该热交换介质具有一第一温度,不同于该研磨垫的一第二温度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造