[发明专利]一种等离子腔测试背景消除方法有效
| 申请号： | 201710980087.7 | 申请日： | 2017-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN107995765B | 公开（公告）日： | 2020-09-04 |
| 发明（设计）人： | 何鸿飞;梁子长;岳慧 | 申请（专利权）人： | 上海无线电设备研究所 |
| 主分类号： | H05H1/00 | 分类号： | H05H1/00 |
| 代理公司： | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人： | 朱成之 |
| 地址： | 200090 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种等离子腔测试背景消除方法，包含：S1，基于宽带扫频测试，分别获取密闭且充满等离子腔中放置目标和不放置目标情况下的电磁散射特性数据；S2，将等离子腔中放置目标和不放置目标情况下的电磁散射特性数据进行矢量相减，进行背景消除处理；S3，将经过背景消除处理后获得的包覆等离子体的目标幅度和相位回波信号，经二维傅里叶变换，获得多路径干扰下的二维散射图像，并提取所述的二维散射图像中强散射点位置；S4，在对应的二维散射图像中强散射点位置处放置金属小球，对之进行宽带扫频标定测试得到多组标定数据，并对二维散射图像进行标定处理，修正多路径耦合对密闭等离子体腔中目标测试的误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 等离子 测试 背景 消除 方法 | ||
【主权项】：
一种等离子腔测试背景消除方法，其特征在于，包含如下步骤：S1，基于宽带扫频测试，分别获取密闭且充满等离子腔中放置目标和不放置目标情况下的电磁散射特性数据；S2，将等离子腔中放置目标和不放置目标情况下的电磁散射特性数据进行矢量相减，进行背景消除处理；S3，将经过背景消除处理后获得的包覆等离子体的目标幅度和相位回波信号，经二维傅里叶变换，获得多路径干扰下的二维散射图像，并提取所述的二维散射图像中强散射点位置；S4，在对应的二维散射图像中强散射点位置处放置金属小球，对之进行宽带扫频标定测试得到多组标定数据，并对二维散射图像进行标定处理，修正多路径耦合对密闭等离子体腔中目标测试的误差。
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