[发明专利]一种等离子腔测试背景消除方法

权利要求书

1.一种等离子腔测试背景消除方法，其特征在于，包含如下步骤：

S1，基于宽带扫频测试，分别获取密闭且充满等离子腔中放置目标和不放置目标情况下的电磁散射特性数据；

S2，将等离子腔中放置目标和不放置目标情况下的电磁散射特性数据进行矢量相减，进行背景消除处理；

S3，将经过背景消除处理后获得的包覆等离子体的目标幅度和相位回波信号，经二维傅里叶变换，获得多路径干扰下的二维散射图像，并提取所述的二维散射图像中强散射点位置；

S4，在对应的二维散射图像中强散射点位置处放置金属小球，对之进行宽带扫频标定测试得到多组标定数据，并对二维散射图像进行标定处理，修正多路径耦合对密闭等离子体腔中目标测试的误差；

所述的步骤S1包含：

S1.1，将被测目标置于密闭等离子腔中，待密闭腔充满等离子体后，设置目标旋转角度和每次旋转的角度步进间隔，设置电磁波起始发射频率、终止发射频率和频率增量，在设定的角度上测量采集被测目标与密闭等离子腔的宽带幅度和相位回波信号；

S1.2，将被测目标取出，待密闭腔充满等离子体后，设置旋转角度和每次旋转的角度步进间隔，设置电磁波起始发射频率、终止发射频率和频率增量，在设定的角度上测量采集密闭等离子腔的宽带幅度和相位回波信号；

所述的步骤S2具体为：

将设定角度下被测目标与密闭等离子腔的宽带幅度和相位回波信号按照公式(1)减去密闭等离子腔的宽带幅度和相位回波信号进行背景消除处理，获取包覆等离子体的目标幅度和相位回波信号

所述的步骤S3具体为：

将背景消除后获得的包覆等离子体的目标幅度和相位回波信号，依据微波逆孔径成像原理，生成二维散射图像，利用Clean迭代算法，找出目标散射图像中幅度的最大点，把该最大点作为第一个强散射点，然后从散射图像的原始采样数据中减去该强散射点产生的散射场得到新的采样数据，再从新的采样数据中找到一个新的强散射点，依次类推，直到达到预设的门限为止；

所述的步骤S4包含：

S4.1，选取雷达散射截面量级相当的金属球，分别依次置于二维散射图像的各个强散射点位置处，进行宽带扫频测试，获取金属球幅度和相位回波信号；

S4.2，在所述的二维散射图像上，每个强散射点采用对应的金属球幅度和相位回波信号并通过公式(2)进行标定修正多路径耦合对密闭等离子体腔中目标测试的误差：

式中，σ_T为定标后目标雷达散射截面的散射矢量；σ_o为定标体理论的散射矢量；为固定背景消除后的目标回波信号矢量；为固定背景消除后的定标体回波信号矢量。

2.如权利要求1所述的等离子腔测试背景消除方法，其特征在于，在所述的步骤S4.2后还包含：

从定标后目标雷达散射截面的散射矢量中，采用基于散射图像的目标雷达散射截面重构技术，提取中心频率下随角度变化的包覆等离子的目标雷达散射截面。