[发明专利]电子部件测试用分选机及其示教点调整方法

摘要

本发明涉及一种电子部件测试用分选机及其示教点调整方法。本发明涉及如下的技术：在启动分选机的过程中拍摄拾取模块的拾取部或者被拾取部抓持的半导体元件的抓持状态，并对拍摄的图像和已存储的图像进行比较，从而能够判断通过拾取模块的示教点的不良与否或者半导体元件的抓持不良与否。根据本发明，由于在分选机的启动过程中持续地调整示教点，所以可以提高半导体元件的移动作业的可靠性，且由于不发生基于示教点不良的启动中止状况，所以能够提升分选机的启动率而增加处理容量，并且能够确认半导体元件的抓持不良与否而迅速地作出对应。

主权项

1.一种电子部件测试用分选机，其中，包括：多个移动装置，在半导体元件的移动路径上，将位于前端的示教区域的电子部件移动到后端的示教区域；连接装置，在位于所述移动路径上的测试位置，使电子部件电连接到测试机；至少一个摄像机，用于判断借助所述多个移动装置中的至少一个移动装置的电子部件的示教不良与否；控制装置，控制所述多个移动装置、所述连接装置和所述至少一个摄像机，所述多个移动装置中的至少一个移动装置包括：拾取模块，具有至少一个拾取部，所述至少一个拾取部包含能够抓持电子部件或解除电子部件的抓持的基准拾取部；以及移动机，用于使所述拾取模块在前端的示教区域和后端的示教区域之间移动，所述摄像机拍摄位于特定位置的被所述基准拾取部抓持的特定电子部件的底面，所述控制装置利用在所述特定位置处被所述摄像机拍摄的、被所述基准拾取部抓持的特定电子部件的底面图像来判断所述基准拾取部的示教不良与否之后，如果所述基准拾取部的示教不良，则调整所述基准拾取部的示教点。