[发明专利]电子部件测试用分选机及其示教点调整方法

权利要求书

1.一种电子部件测试用分选机，其中，包括：

多个移动装置，在半导体元件的移动路径上，将位于前端的示教区域的电子部件移动到后端的示教区域；

连接装置，在位于所述移动路径上的测试位置，使电子部件电连接到测试机；

至少一个摄像机，用于判断借助所述多个移动装置中的至少一个移动装置的电子部件的示教不良与否；

控制装置，控制所述多个移动装置、所述连接装置和所述至少一个摄像机，

所述多个移动装置中的至少一个移动装置包括：

拾取模块，具有至少一个拾取部，所述至少一个拾取部包含能够抓持电子部件或解除电子部件的抓持的基准拾取部；以及

移动机，用于使所述拾取模块在前端的示教区域和后端的示教区域之间移动，

所述摄像机拍摄位于特定位置的被所述基准拾取部抓持的特定电子部件的底面，

所述控制装置利用在所述特定位置处被所述摄像机拍摄的、被所述基准拾取部抓持的特定电子部件的底面图像来判断所述基准拾取部的示教不良与否之后，如果所述基准拾取部的示教不良，则调整所述基准拾取部的示教点。

2.如权利要求1所述的电子部件测试用分选机，其中，

所述控制装置在利用所述摄像机而在所述特定位置拍摄所述基准拾取部的底面图像之后，进行分析而第一次调整所述基准拾取部的示教点，然后利用被第一次调整示教点的所述基准拾取部抓持的特定电子部件的底面图像来判断所述基准拾取部的示教不良与否。

3.如权利要求2所述的电子部件测试用分选机，其中，

所述控制装置利用所述基准拾取部的底面图像来使所述基准拾取部的底面中心与所述摄像机的中心对齐，并将底面中心与所述摄像机的中心对齐的所述基准拾取部所抓持的特定电子部件的底面图像的中心和所述摄像机的中心进行比较，从而判断所述基准拾取部的示教不良与否。

4.如权利要求1所述的电子部件测试用分选机，其中，

所述特定电子部件是为了判断所述基准拾取部的示教不良与否而制作的模型设备。

5.如权利要求4所述的电子部件测试用分选机，其中，

所述模型设备底面的X轴长度和Y轴长度分别比实际电子部件底面的X轴长度和Y轴长度长。

6.如权利要求4所述的电子部件测试用分选机，其中，

在所述模型设备的底面，在预定地点处配备有颜色与背景颜色不同的标识部分。

7.如权利要求1所述的电子部件测试用分选机，其中，

所述移动装置还包括：识别件，结合于所述基准拾取部，以用于设定所述基准拾取部的基准位置。

8.如权利要求7所述的电子部件测试用分选机，其中，

所述识别件具有以管道形态插入于所述基准拾取部的结构。

9.如权利要求1所述的电子部件测试用分选机，其中，

所述移动装置还包括与所述基准拾取部的相对坐标已确定的设定摄像机，

所述控制装置在通过所述设定摄像机拍摄所述摄像机之后，判断由所述设定摄像机拍摄的图像的中心是否与所述摄像机的中心对齐，从而设定所述基准拾取部的基准位置。

10.一种电子部件测试用分选机中的示教点调整方法，其中，包括如下的步骤：

抓持步骤，利用基准拾取部抓持位于预定位置的模型设备；

移动步骤，将抓持模型设备的所述基准拾取部移动至特定位置；

图像获取步骤，利用摄像机获取位于所述特定位置的基准拾取部所抓持的所述模型设备的底面图像；

返回步骤，在使所述基准拾取部移动至预定位置之后，使模型设备返回至原位置；

分析步骤，对在所述图像获取步骤中获取的图像和正常抓持时的图像进行比较和分析；

调整步骤，利用在所述分析步骤中分析的值来调整所述基准拾取部的示教点。

11.如权利要求10所述的电子部件测试用分选机中的示教点调整方法，其中，还包括如下步骤：

确认步骤，利用在所述调整步骤中调整过示教点的基准拾取部重新抓持在所述返回步骤中返回的模型设备，然后重新执行所述移动步骤、图像获取步骤和分析步骤，从而确认示教点不良与否。