[发明专利]用于波束成形测量的具有定位系统的测量系统和测量方法有效

专利信息
申请号: 201710952164.8 申请日: 2017-10-13
公开(公告)号: CN109286453B 公开(公告)日: 2022-01-25
发明(设计)人: 科比特·罗威尔;文森特·阿巴迪 申请(专利权)人: 罗德施瓦兹两合股份有限公司
主分类号: H04B17/15 分类号: H04B17/15;H04B17/29;H04B7/06;H04B7/08
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华;何月华
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及用于波束成形测量的具有定位系统的测量系统和测量方法。提供了一种包括测量天线(6)、链路天线(7)和定位系统(2)的测量系统(1)。测量天线(6)配置用于在被测设备(4)上执行无线电测量。链路天线(7)配置成执行与被测设备(4)通信。定位系统(2)包括第一旋转定位器(24),第一旋转定位器(24)配置成使被测设备(4)围绕第一轴线(c)旋转。定位系统(2)还包括第二旋转定位器(26),第二旋转定位器(26)配置成使测量天线(6)围绕第二轴线(a)旋转。第一旋转定位器(24)连接至链路天线(7)且由此配置成使链路天线(7)绕着第一轴线(c)围绕被测设备(4)旋转。
搜索关键词: 用于 波束 成形 测量 具有 定位 系统 测量方法
【主权项】:
1.一种测量系统,所述测量系统包括测量天线(6)、链路天线(7)和定位系统(2),其中,所述测量天线(6)配置成对被测设备(4)执行无线电测量,其中,所述链路天线(7)配置成执行与所述被测设备(4)通信,其中,所述定位系统(2)包括:‑第一旋转定位器(24),所述第一旋转定位器(24)配置成使所述被测设备(4)至少围绕第一轴线(c)旋转,以及‑第二旋转定位器(26),所述第二旋转定位器(26)配置成使所述测量天线(6)至少围绕第二轴线(a)旋转,其中,所述第一旋转定位器(24)连接至所述链路天线(7)且配置成使所述链路天线(7)绕着所述第一轴线(c)围绕所述被测设备(4)旋转。
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