[发明专利]用于波束成形测量的具有定位系统的测量系统和测量方法

说明书

本发明涉及用于波束成形测量的具有定位系统的测量系统和测量方法。提供了一种包括测量天线(6)、链路天线(7)和定位系统(2)的测量系统(1)。测量天线(6)配置用于在被测设备(4)上执行无线电测量。链路天线(7)配置成执行与被测设备(4)通信。定位系统(2)包括第一旋转定位器(24)，第一旋转定位器(24)配置成使被测设备(4)围绕第一轴线(c)旋转。定位系统(2)还包括第二旋转定位器(26)，第二旋转定位器(26)配置成使测量天线(6)围绕第二轴线(a)旋转。第一旋转定位器(24)连接至链路天线(7)且由此配置成使链路天线(7)绕着第一轴线(c)围绕被测设备(4)旋转。

技术领域

本发明涉及测量执行波束成形的被测设备的精确度。特别地，本发明出于该目的涵盖了测量系统和测量方法。

背景技术

为了执行精确的测量，尤其是确定被测设备是否正确地执行波束成形，用无线电测量是必要的。这意味着链路天线与被测设备在通信上联系且指示该被测设备采用特殊的波束成形参数。单独的测量天线确定在被测设备周围的传输模式。在理想的设置中，被测设备、链路天线和测量天线能够自由地被定位和/或取向。在实践中，这将是非常复杂的且将需要非常复杂的测量设置。

美国专利US 8,823,593B2示出一种测量系统和方法，其中，被测设备布置在转台上且因此仅仅能够围绕单个轴线转动。此外，测量天线围绕相对于被测设备的旋转的垂直平面可旋转地安装。由此可以测量被测设备周围的所有位置。然而在该专利中示出的系统和方法还存在缺陷，这是因为在该专利中未示出链路天线的使用。

发明内容

本发明的目的在于提供测量系统和测量方法，该测量系统和测量方法允许对被测设备进行无线电测量以检查被测设备的波束成形符合性。

该目的通过本发明针对系统的技术方案的特征以及通过本发明针对方法的技术方案的特征得以实现。

根据本发明的第一方面，提供了包括测量天线、链路天线和定位系统的测量系统。测量天线配置用于对被测设备执行无线电测量。链路天线配置成执行与被测设备通信。定位系统包括第一旋转定位器，该第一旋转定位器配置成使被测设备至少围绕第一轴线旋转。定位系统还包括第二旋转定位器，该第二旋转定位器配置成使测量天线至少围绕第二轴线旋转。第一旋转定位器连接至链路天线，且由此配置成使链路天线绕着第一轴线围绕被测设备旋转。由此可以测量大量不同的测量位置且由此检查被测设备的波束成形符合性。

根据第一方面的第一优选实现形式，第一旋转定位器配置成使链路天线与被测设备一起围绕被测设备的位置旋转，同时不改变被测设备相对于链路天线的对齐。这允许系统的非常简单的构造。

根据第一方面的第二优选实现形式，第一旋转定位器配置成使链路天线随着被测设备的坐标系旋转。这显著地简化后续的计算。

根据第一方面的第三优选实现形式，定位系统包括第三旋转定位器，该第三旋转定位器配置成使被测设备围绕第三轴线旋转。这允许通过相对于链路天线旋转被测设备来以相对于被测设备的不同角度定位链路天线。由此在执行波束成型符合性测试的同时提供了另外的自由度。

根据第一方面的另一优选实现形式，第三旋转定位器配置成不使链路天线围绕第三轴线旋转。由此在使被测设备围绕第三轴线旋转的同时，改变被测设备和链路天线之间的对齐。

根据第一方面的另一优选实现形式，定位系统配置用于在球形坐标系内定位被测设备。由此，给出了用于执行测试的很大的灵活性。

根据第一方面的另一优选实现形式，测量系统包括电波暗室。测量天线、链路天线和定位系统于是布置在该电波暗室内。这减少了对测量的外部干扰。