[发明专利]一种阵列天线近场标定方法有效
| 申请号： | 201710948180.X | 申请日： | 2017-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN108037374B | 公开（公告）日： | 2020-03-31 |
| 发明（设计）人： | 黄超;王艳苹 | 申请（专利权）人： | 西安天和防务技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01S7/40 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 阚梓瑄 |
| 地址： | 710065 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供一种阵列天线近场标定方法，属于天线测量技术领域，该方法包括：对阵列天线接收的第一方向的信号进行采样，得到第一采样信号，对所述第一采样信号进行运算，得出不同基线长度的第一相位差；对阵列天线接收的第二方向的信号进行采样，得到第二采样信号，对所述第二采样信号进行运算，得出不同基线长度的第二相位差；根据所述第二相位差与所述第一相位差，计算得出所述第二方向与所述第一方向夹角的第一测量值；根据所述第一测量值和所述第二方向与所述第一方向夹角的真实值，计算得出所述第二方向的偏移误差。该方法可以以最小的场地要求完成对大型阵列天线的幅度相位标定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 阵列 天线 近场 标定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种阵列天线近场标定方法，其特征在于，包括：对阵列天线接收的第一方向的信号进行采样，得到第一采样信号，对所述第一采样信号进行运算，得出不同基线长度的第一相位差；对阵列天线接收的第二方向的信号进行采样，得到第二采样信号，对所述第二采样信号进行运算，得出不同基线长度的第二相位差；根据所述第二相位差与所述第一相位差，计算得出所述第二方向与所述第一方向夹角的第一测量值；根据所述第一测量值和所述第二方向与所述第一方向夹角的真实值，计算得出所述第二方向的偏移误差；其中，所述第一方向的信号和所述第二方向的信号由信号源发出；所述第二方向与所述第一方向夹角的真实值通过测角仪测得。
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