[发明专利]一种阵列天线近场标定方法

权利要求书

1.一种阵列天线近场标定方法，其特征在于，包括：

对阵列天线接收的第一方向的信号进行采样，得到第一采样信号，对所述第一采样信号进行运算，得出不同基线长度的第一相位差；

对阵列天线接收的第二方向的信号进行采样，得到第二采样信号，对所述第二采样信号进行运算，得出不同基线长度的第二相位差；

根据所述第二相位差与所述第一相位差，计算得出所述第二方向与所述第一方向夹角的第一测量值；

根据所述第一测量值和所述第二方向与所述第一方向夹角的真实值，计算得出所述第二方向的偏移误差；

其中，所述第一方向的信号和所述第二方向的信号由信号源发出；所述第二方向与所述第一方向夹角的真实值通过测角仪测得；

所述根据所述第一测量值和所述第二方向与所述第一方向夹角的真实值，计算得出所述第二方向的偏移误差，其计算公式为：

其中，θ_real为真实值，θ_measure为测量值，Δθ₀为偏移误差；

所述根据所述第二相位差与所述第一相位差，计算得出所述第一测量值，包括：

根据所述第一相位差对所述第二相位差进行校正，得出第一校正值；对所述第一校正值进行幅值相位变换，找出变换后幅值最大时对应的第一角频率；

根据所述第一角频率，计算得出所述第一测量值。

2.根据权利要求1所述的阵列天线近场标定方法，其特征在于，还包括：

对阵列天线接收的第三方向的信号进行采样，得到第三采样信号，对所述第三采样信号进行运算，得出不同基线长度的第三相位差；

根据所述第三相位差与所述第一相位差，计算得出所述第三方向与所述第一方向夹角的第二测量值；

根据所述第二测量值与所述偏移误差，计算得出所述第三方向与所述第一方向夹角的真实值。

3.根据权利要求2所述的阵列天线近场标定方法，其特征在于，所述根据所述第二测量值与所述偏移误差，计算得出所述第三方向与所述第一方向夹角的真实值，其计算公式为：

其中，θ_real为真实值，θ_measure为测量值，Δθ₀为偏移误差。

4.根据权利要求1所述的阵列天线近场标定方法，其特征在于，所述对所述第一采样信号进行运算，包括：

根据所述第一采样信号，计算被测阵列天线的各T/R组件、各天线单元的第一幅相信息；

将所述第一幅相信息进行互相关运算，得出所述第一相位差；

所述对所述第二采样信号进行运算，包括：

根据所述第二采样信号，计算被测阵列天线的各T/R组件、各天线单元的第二幅相信息；

将所述第二幅相信息进行互相关运算，得出所述第二相位差。

5.根据权利要求2所述的阵列天线近场标定方法，其特征在于，所述对所述第三采样信号进行运算，包括：

根据所述第三采样信号，计算被测阵列天线的各T/R组件、各天线单元的第三幅相信息；

将所述第三幅相信息进行互相关运算，得出所述第三相位差。

6.根据权利要求2所述的阵列天线近场标定方法，其特征在于，所述根据所述第三相位差与所述第一相位差，计算得出所述第二测量值，包括：

根据所述第一相位差对所述第三相位差进行校正，得出第二校正值；对所述第二校正值进行幅值相位变换，找出变换后幅值最大时对应的第二角频率；

根据所述第二角频率，计算得出所述第二测量值。

7.根据权利要求1所述的阵列天线近场标定方法，其特征在于，还包括：

选取所述阵列天线的天线阵面中心作为参考点，所述信号源到所述参考点的距离为R；

选取经过所述参考点且垂直于所述天线阵面的法线作为参考天线。

8.根据权利要求7所述的阵列天线近场标定方法，其特征在于，确定所述R，包括：

对R进行赋值；

当R为某一确定值时，对阵列天线接收的第一方向的信号进行采样，得到第一采样信号，对所述第一采样信号进行运算，得出不同基线长度的第一相位差；

对阵列天线接收的第二方向的信号进行采样，得到第二采样信号，对所述第二采样信号进行运算，得出不同基线长度的第二相位差；

根据所述第二相位差与所述第一相位差，计算得出所述第二方向与所述第一方向夹角的第一测量值；

根据所述第一测量值和所述第二方向与所述第一方向夹角的真实值，计算得出所述第二方向的偏移误差，所述偏移误差亦为所述参考天线的偏移误差；

根据所述参考天线的偏移误差的范围要求确定R值。