[发明专利]阵列基板及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201710899289.9 申请日: 2017-09-28
公开(公告)号: CN107706198B 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: 黄书豪;刘晋铨;苏松宇 申请(专利权)人: 友达光电股份有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12
代理公司: 北京市立康律师事务所 11805 代理人: 梁挥;孟超
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种阵列基板的制造方法,包括以下步骤。依序形成栅绝缘层、第一及第二栅极、第一层间绝缘层于第一及第二主动层上。利用掩膜进行一微影蚀刻工艺,以于栅绝缘层与第一层间绝缘层中形成第一~第四接触洞。形成分别通过第一~第四接触洞与第一及第二主动层连接的第一及第二源极、第一及第二漏极。形成第二层间绝缘层。利用前述掩膜进行另一微影蚀刻工艺,以于第二层间绝缘层中形成第一~第三开口及接触洞,其中于法线方向上,第三开口与第一接触洞重叠,接触洞与第二接触洞重叠,第一开口与第三接触洞重叠,第二开口与第四接触洞重叠。
搜索关键词: 阵列 及其 制造 方法
【主权项】:
一种阵列基板的制造方法,该阵列基板具有一显示区及一驱动电路区,其特征在于,该制造方法包括:形成一第一主动层于该显示区以及一第二主动层于该驱动电路区,其中该第一主动层具有一第一通道预定区、一第一源极掺杂预定区与一第一漏极掺杂预定区,且该第二主动层具有一第二通道预定区、一第二源极掺杂预定区与一第二漏极掺杂预定区;形成一栅绝缘层于该第一主动层及该第二主动层上;形成一第一栅极及一第二栅极于该栅绝缘层上,其中该第一栅极与该第一通道预定区于一法线方向上重叠,且该第二栅极与该第二通道预定区于该法线方向上重叠;形成一第一层间绝缘层于该第一栅极及该第二栅极上;利用一掩膜进行一微影蚀刻工艺,以于该栅绝缘层与该第一层间绝缘层中形成一第一接触洞、一第二接触洞、一第三接触洞、及一第四接触洞,其中该第一接触洞暴露出至少部分的该第一源极掺杂预定区、该第二接触洞暴露出至少部分的该第一漏极掺杂预定区、该第三接触洞暴露出至少部分的该第二源极掺杂预定区、该第四接触洞暴露出至少部分的该第二漏极掺杂预定区;形成一第一导体层包括一第一源极、一第一漏极、一第二源极及一第二漏极,其中该第一源极、该第一漏极、该第二源极及该第二漏极分别通过该第一接触洞、该第二接触洞、该第三接触洞及该第四接触洞与该第一源极掺杂预定区、该第一漏极掺杂预定区、该第二源极掺杂预定区及该第二漏极掺杂预定区接触;形成一第二导体层于该第一导体层上方;形成一第二层间绝缘层于该第二导体层上;利用该掩膜进行另一微影蚀刻工艺,以于该第二层间绝缘层中形成一第一开口、一第二开口、一第三开口及一接触洞,其中该第三开口与该第一接触洞于该法线方向上重叠,该接触洞与该第二接触洞于该法线方向上重叠,该第一开口与该第三接触洞于该法线方向上重叠,该第二开口与该第四接触洞于该法线方向上重叠;以及形成一第三导体层于该第二层间绝缘层上。
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