[发明专利]一种射频集成电路的智能化测试设备及其测试方法在审
| 申请号： | 201710898351.2 | 申请日： | 2017-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN107765165A | 公开（公告）日： | 2018-03-06 |
| 发明（设计）人： | 臧宏;苏畅;周元元;刘姚军;彭雪娟;胡明昆;吴日成 | 申请（专利权）人： | 国营芜湖机械厂 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 24100*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种射频集成电路的智能化测试设备及其测试方法，包括RF信号测试负载母板、RFIC测试子板和ATE测试平台，所述RFIC测试子板通过DB96接口连接所述RF信号测试负载母板，所述RF信号测试负载母板通过欧插连接所述ATE测试平台，ATE测试平台结合应用软件完成RFIC芯片程序的开发和测试程序的自动执行。本发明采用高速RF信号测试负载母板和RFIC测试子板，降低了测试成本，搭载RFIC测试设备，通过软件平台开发RFIC芯片测试程序，实现了RFIC测试的智能化、通用化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 集成电路 智能化 测试 设备 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种射频集成电路的智能化测试设备，其特征在于：包括RF信号测试负载母板、RFIC测试子板和ATE测试平台，所述RFIC测试子板连接所述RF信号测试负载母板，所述RF信号测试负载母板通过欧插连接所述ATE测试平台。
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