[发明专利]一种用于测量箱体内部形位公差的检测装置

摘要

一种用于测量箱体内部形位公差的检测装置，包括导向机构、磁力机构、顶紧机构、调节机构、测量机构和移动机构；千分表通过调节机构和顶紧机构的伸缩杆相连接，伸缩杆下端采用移动机构，从而构成一个整体刚性尺寸，顶紧结构内部有弹簧使整个测量结构下端贴实，套筒与导轨连接，导轨安装在滑块上，滑块通过磁力结构与被测量工件侧面相连接；放置好千分表、移动机构及磁力结构后，移动导轨，在到达预期点后，通过控制器直接测量该点相对位置尺寸并直接记录传递至存储设备，通过多点测量，即实现该箱体内部形位公差的测量。本发明提高了箱体内部检测的可靠性与效率，具有结构简单，设计巧妙，便于操作，通用可调，不限箱体纵深等优点。

主权项

一种用于测量箱体内部形位公差的检测装置，其特征是：包括导向机构(1)、磁力机构(2)、顶紧机构、调节机构(4)、测量机构(5)和移动机构；导向机构(1)包括导轨(11)和多个滑块(12)，滑块(12)安装在导轨(11)上，导轨(11)前端连接到顶紧机构(3)上，滑块(12)的下部固定连接在磁力机构(2)上；顶紧机构(3)包括套筒组件(32)、弹簧(33)和伸缩杆(34)，伸缩杆(34)上安装弹簧(33)后整体置于套筒组件(32)内，伸缩杆(34)的两端伸出套筒组件(32)，上端连接调节机构(4)，下端安装移动机构；调节机构(4)包括调节杆(41)，测量机构(5)安装在调节杆(41)的上部；测量机构(5)包括通过数据线依次连接的千分表(51)、控制器(52)和存储设备，千分表(51)安装调节杆(41)的上。