[发明专利]一种用于测量箱体内部形位公差的检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种箱体内部检测装置，尤其是一种用于测量箱体内部形位公差的检测装置，属于智能化检验检测领域。

背景技术

目前，我国对于箱体类结构件内部的形位公差测量，一般采用间接测量或三坐标测量。特别是细长型箱体内部，类似于起重机臂架等结构，由于长度较长，开口较小，内部不方便测量。受制于设备尺寸限制，有的采用间接测量，通过外部测量，减去对应板厚，但也存在测量不准确，不能准确反映臂筒内部公差变化；而直接采用三坐标进行测量，操作员是通过操纵盒或控制器使测量机构运动，测针接触零件，传感器发出信号，控制系统锁存光栅信号并进行误差计算，控制系统将处理好的数据发送计算机，计算机再进行拟合运算，可见，通过三坐标检测，同样受制于设备限制，对于长筒形箱体内部不便测量，操作复杂，效率低下。

已知的一种深孔形位公差测量装置，由激光跟踪仪、球靶小车组成，激光跟踪仪为现有设备，球靶小车由球靶、可调弹性摆臂、摆臂电机、可调支架、行走轮、车体、平衡导块组成，球靶小车的具体结构为：车体为矩形其两侧设有数个由电机控制的可转动的行走轮，行走轮的外侧设有平衡导块，车体前后分别设有两个支架，前端支架上铰接可调支架，后端支架上铰接长支架，长支架铰接可调支架，长支架的前端铰接电机支架，电机支架上设有摆臂电机，摆臂电机通过联轴铰接可调弹性摆臂，可调弹性摆臂上端连接球靶。可适用于各种孔径，不同长度的深孔的测量，可满足生产中的测量需要，测量精度高，操作简单、方便。但是，依然存在箱体内部特别是臂架类箱体内部存在焊接件，球靶小车无法通过的不足。

发明内容

为了克服现有技术的上述不足，本发明提供一种用于测量箱体内部形位公差的检测机装置，该检测装置能够精确地对箱体内部或臂筒内部进行平面度、直线度等形位公差的检测分析，且结构简单，便于操作，通用可调，不限箱体纵深。

本发明解决其技术问题采用的技术方案是：包括导向机构、磁力机构、顶紧机构、调节机构、测量机构和移动机构；导向机构包括导轨和多个滑块，滑块安装在导轨上，导轨前端连接到顶紧机构上，滑块的下部固定连接在磁力机构上；顶紧机构包括套筒组件、弹簧和伸缩杆，伸缩杆上安装弹簧后整体置于套筒组件内，伸缩杆的两端伸出套筒组件，上端连接调节机构，下端安装移动机构；调节机构包括调节杆，测量机构安装在调节杆的上部；测量机构包括通过数据线依次连接的千分表、控制器和存储设备，千分表安装调节杆的上。

相比现有技术，本发明的一种用于测量箱体内部形位公差的检测机装置，通过磁力结构吸附于被测工件底面，同时弹簧使顶紧机构下部的移动机构与箱体下表面贴实，配合调节结构使测量机构的千分表与箱体上表面顶紧，移动导轨，在到达预期点后，通过控制器在箱体外部按下测量按钮，便直接测量该点相对位置尺寸并直接记录传递至存储设备，通过多点测量，即实现该箱体内部形位公差的测量。可见，本发明具有结构简单，设计巧妙，便于操作，通用可调，不限箱体纵深等优点。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1是本发明一个实施例的结构示意图。

图中，1、导向机构，11、导轨，12、滑块，2、磁力机构，21、连接座，22、磁力座，3、顶紧机构，31、端盖，32、套筒组件，321、套筒，322、连接块，33、弹簧，34、伸缩杆，35、螺钉，4、调节机构，41、调节杆，42、锁紧螺母，43、基座，5、测量机构，51、千分表，52、控制器，53、计算机，6、万向球。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明的保护范围。

图1示出了本发明一个较佳的实施例的结构示意图，图1中的一种用于测量箱体内部形位公差的检测装置，包括导向机构1、磁力机构2、顶紧机构3、调节机构4、测量机构5和万向球6。