[发明专利]一种基于裕度统计量的广义非负矩阵分解故障监测方法在审
申请号: | 201710874382.4 | 申请日: | 2017-09-25 |
公开(公告)号: | CN107861492A | 公开(公告)日: | 2018-03-30 |
发明(设计)人: | 王培良;杨泽宇;叶晓丰;王硕 | 申请(专利权)人: | 湖州师范学院 |
主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02 |
代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司11246 | 代理人: | 郭晓凤,连围 |
地址: | 313000 *** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于裕度统计量的广义非负矩阵分解故障监测方法,主要包括离线建模和在线监测两个阶段,包括如下步骤离线建模1)数据预处理。对过程正常数据X(m×n)进行标准化处理;2)初始化使用SVD算法对GNMF进行初始化,并利用迭代计算出基矩阵W;3)求得传统正常数据的N2和SPE统计量,并通过KDE确定上述统计量的控制上限和SPEh。在线监测1)对新的过程数据进行相同的标准化处理;2)根据离线建模计算出的基矩阵W得到新的系数矩阵H;3)计算监测统计量和SPEMS;4)通过比较监测统计量和SPEMS和相应控制上限和SPEh,判断其是否为故障。本发明最后通过对TE过程的仿真实验验证了该算法的可行性和有效性。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 统计 广义 矩阵 分解 故障 监测 方法 | ||
【主权项】:
一种基于裕度统计量的广义非负矩阵分解故障监测方法,主要包括离线建模和在线监测两个阶段,其特征在于:该方法包括如下步骤:A、离线建模1)数据预处理:对过程正常数据X(m×n)进行标准化处理;2)初始化:使用SVD算法对广义非负矩阵分解(GNMF)进行初始化,并利用式(1)迭代计算出基矩阵W;其中,[Xij]+=(|Xij|+Xij)/2,[Xij]‑=(|Xij|‑Xij)/2;3)根据式(3)(4)求得传统正常数据的N2和SPE统计量,并通过核密度估计(KDE)确定上述统计量的控制上限和SPEh;当GNMF用于过程监测时,模型如式(2)所示其中,为特征空间,描述了过程中的状态变化,E则表示为残差,描述了随机噪声;为了对故障进行监测,接下来构建两个监测统计量指标,分别如式(3)、式(4)所示其中,为原始数据X的重构;N2和SPE两个统计量都是单变量,因此非常适合用核密度估计(KDE)这个方法来计算控制上限;核密度估计是一类数据驱动的技术,用于密度函数的非参数估计;样本集X={xi,i=1,2,…},密度函数为P(x),可以用式(5)表示而对单变量核估计的KDE方程如式(6)所示其中,是概率密度函数的估计,n是样本数,h是带宽,K(·)是核函数,这里我们采用高斯核函数,且通常满足式(7):这里我们采用该算法计算N2和SPE两个统计量指标的控制上限和SPEh,置信区间设为99%;B、在线监测1)对新的过程数据进行相同的标准化处理;2)根据离线建模计算出的基矩阵W得到新的系数矩阵H;非负矩阵分解算法(NMF):对于给定一个非负数据矩阵X∈Rm×n(m为数据变量数,n为数据样本数),为找到一个近似的分解,将X分解为一组适当的非负矩阵W∈Rm×k和H∈Rk×n使下式(8)成立:X+≈W+H+ (8)其中,W为基矩阵,H为系数矩阵,下角标”+”表示非负性约束,降维阶次k一般情况下满足(m+n)k≤nm。而这种非负性约束导致了相应的基矩阵W和系数矩阵H在一定程度上的稀疏性。NMF算法的分解问题可以归结为一个非线性优化问题,通过定义一个目标函数来刻画低秩近似的逼近程度。Lee等定义了两种简单的目标函数来解决该优化问题,并给出了W和H的迭代规则。本文采用欧氏距离来度量原始数据矩阵X与基矩阵W和系数矩阵H之积之间的误差,其目标函数如式(9)所示:对于上式,当X=WH时取最小值0;而当上式的值越小越接近于0的话,则说明分解越精确。这里我们采用乘法更新(MU)算法对W和H进行迭代,更新规则如式(10)和式(11)所示:式(9)中所示的目标函数是单调非增的,因此通过上述更新迭代规则使得W和H不再变化时,则其目标函数保持不变。其中,基矩阵W保留了原始数据的数据结构和空间关系,系数矩阵H则可作为原始矩阵X的低阶近似矩阵。3)计算监测统计量和SPEMS;(a)离线裕度和二级控制限的设定由正常数据的统计量数值分布可知,其数值分布与给定控制限之间存在相应裕度,这部分裕度信息有利于微小故障数据的分离,因此,在原有控制限的前提下,基于裕度信息定义二级的控制限和SPEl,该控制限不仅指示了正常数据的统计量数值分布水平,又保证了与给定控制上限和SPEh之间的允许波动范围,更有利于故障监测;这里我们假设对SPE(t)统计量进行改善,首先在原有的正常数据的监测统计量控制上限SPEh的基础上求出一个控制上限SPEh和统计量SPE(t)均值的差关于SPE(t)方差的倍数f如式(12)所示:f=(SPEh‑SPE_mean)/SPE_std (12)其中,SPE_mean和SPE_std分别为SPE的均值的方差。由于正常数据到故障数据往往会存在着一定的容许裕度,为此我们根据正常数据的允许范围,降低了一倍方差设定了一个二级控制限SPEl。并根据SPEl求得其与各采样时刻SPE统计量与二级控制限SPEl的裕度Dist。Dist保证了时变过程中正常情况的特征范围。SPEl可由式(13)所得:SPEl=SPE_mean+(f‑1)·SPE_std (13)这里我们引入对过程数据的时变分析,接下来计算第i个采样时刻统计量SPE(t)的一阶、二阶差分如式(14):因此,二级控制限SPEl的统计量裕度dist可由式(15)拟合:dist(t)=a×E1(t)+b×E2(t)+c×SPE(t) (15)其中,a,b,c为对应系数。并通过下式的优化目标进行最优参数求解对应的系数如式(16):(b)在线统计量的构造在线监测中,同样地计算故障数据下第i个采样时刻的统计量SPEf(t)的一阶、二阶差分Ef1和Ef2,如式(17):故障数据下的重构统计量裕度可由式(18)构造:distf(t)=a×Ef1(t)+b×Ef2(t)+c×SPEf(t) (18)其中,a,b,c三个对应系数由式(16)求得。而在故障监测中新的裕度统计量SPEMS由式(19)计算得到:4)通过比较监测统计量和SPEMS和相应控制上限和SPEh,判断其是否为故障;当新的样本数据在线得到后,新的统计量SPEMS和原始正常数据控制上限SPEh进行比较;当SPEMS>SPEh时,即表示过程可能产生了故障,需要进行进一步的分析和验证。
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