[发明专利]CF基板的微观缺陷检测方法、装置及设备在审
| 申请号： | 201710873551.2 | 申请日： | 2017-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN107402218A | 公开（公告）日： | 2017-11-28 |
| 发明（设计）人： | 刘学敏 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/95;G02F1/13 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司44202 | 代理人： | 郝传鑫,熊永强 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种CF基板的微观缺陷检测方法、装置以及设备。所述检测方法包括以下步骤获取所述CF基板的灰阶图像；检测所述灰阶图像的待检测点的灰阶值；获取所述待检测点所在的色彩区域对应的正常灰阶值范围；判断所述待检测点的灰阶值是否在对应的正常灰阶范围内；若所述待检测点的灰阶值不在对应的正常灰阶范围内，则判断所述待检测点为异常点。利用本发明提供的所述CF基板的微观缺陷检测方法、装置及设备，能够对CF基板上的不同色彩区域有区分地进行适应性的缺陷检测，从而提高CF基板的缺陷检出率，有效地解决了缺陷漏检的问题。 | ||
| 搜索关键词： | cf 微观 缺陷 检测 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
一种CF基板的微观缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：获取所述CF基板的灰阶图像；检测所述灰阶图像的待检测点的灰阶值；获取所述待检测点所在的色彩区域对应的正常灰阶值范围；判断所述待检测点的灰阶值是否在对应的正常灰阶范围内；若所述待检测点的灰阶值不在对应的正常灰阶范围内，则判断所述待检测点为异常点。
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