[发明专利]提高小型线性离子阱质谱计质量范围上限的方法和质谱计在审

专利信息
申请号: 201710848026.5 申请日: 2017-09-19
公开(公告)号: CN107799380A 公开(公告)日: 2018-03-13
发明(设计)人: 李得天;成永军;冯焱;李刚;孙雯君;裴晓强;袁征难;董猛;孙冬花;刘珈彤;马亚芳 申请(专利权)人: 兰州空间技术物理研究所
主分类号: H01J49/00 分类号: H01J49/00;H01J49/02
代理公司: 北京理工大学专利中心11120 代理人: 温子云,仇蕾安
地址: 730000 甘*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明公开了一种提高小型化线性离子阱质谱计质量上限的方法,降低了施加在小型化线性离子阱质谱计中线性离子阱电极的射频信号幅值;在线性离子阱质谱计运行的弹出阶段,对施加在弹出电极上的辅助交流信号的频率进行扫描;频率扫描范围覆盖离子质量范围对应的久期频率。本发明还公开了一种具有大质量上限的小型化线性离子阱质谱计。使用本发明能够在降低小型化线性离子阱质谱计功率的同时,令质谱计的质量上限在较低射频信号幅值下得到保持。
搜索关键词: 提高 小型 线性 离子 阱质谱计 质量 范围 上限 方法 质谱计
【主权项】:
一种提高小型化线性离子阱质谱计质量上限的方法,其特征在于,降低施加在小型化线性离子阱质谱计中线性离子阱电极的射频信号幅值;在线性离子阱质谱计运行的弹出阶段,对施加在弹出电极上的辅助交流信号的频率进行扫描;频率扫描范围覆盖离子质量范围对应的久期频率。
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