[发明专利]结构面粗糙度系数统计参数Z2有效

专利信息
申请号: 201710830389.6 申请日: 2017-09-13
公开(公告)号: CN107577884B 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 黄曼;马成荣;杜时贵;夏才初;罗战友;马文会;许强 申请(专利权)人: 绍兴文理学院
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F119/00;G01N33/24
代理公司: 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 代理人: 王利强
地址: 312000 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种基于采样间距的结构面粗糙度系数与统计参数之间关系模型的构建方法,包括如下步骤:1)选取Barton标准轮廓线的高像素图片,重绘得到轮廓线,保存为图片格式;2)根据1)中得到的结构面轮廓线信息,设置不同的采样间距Δx,计算出对应的粗糙度统计参数Z2;3)分别对不同采样间距下,结构面粗糙度系数JRC与统计参数Z2之间的关系进行拟合;4)探索拟合参数a1、b1;a2、b2与采样间距Δx之间的函数关系,进而可构建不同采样间距下结构面粗糙度系数的函数模型。本发明能够较好的描述采样间距对结构面粗糙度系数估测的影响,从而能够快速、准确地估计不同采样间距下的结构面粗糙度系数JRC。
搜索关键词: 结构 粗糙 系数 统计 参数 base sub
【主权项】:
一种结构面粗糙度系数统计参数Z2与采样间距关系模型的构建方法,其特征在于:所述方法包括如下步骤:1)选取Barton标准轮廓线的高像素图片,通过AutoCAD的光栅图像参照功能重绘得到轮廓线,保存为图片格式;2)根据1)中得到的结构面轮廓线信息,设置不同的采样间距Δx,按照如下公式计算出对应的粗糙度统计参数Z2;Z2=[1L∫x=0x=L(dydx)2dx]1/2=[1LΣi=1n-1(yi+1-yi)2xi+1-xi]1/2---(1)]]>其中,L为标准轮廓线的水平长度;Δx为第i+1条标准轮廓线xi+1和第i条标准轮廓线xi之间的距离,即采样间距;yi为第i条标准轮廓线xi的高度,yi+1为第i+1条标准轮廓线xi+1的高度;3)分别对不同采样间距下,结构面粗糙度系数JRC与统计参数Z2之间的关系进行拟合:当采样间距趋于0.005~0.05cm时,JRC与log z2拟合程度较好;当离散间距趋于0.05~0.5cm时,JRC与拟合程度较好;所以构建以下模型:Δx=0.005~0.05cm时,JRC=a1+b1log z2   (2)Δx=0.05~0.5cm时,JRC=a2+b2z2---(3)]]>其中,a1、b1;a2、b2为拟合参数。4)探索拟合参数a1、b1;a2、b2与采样间距Δx之间的函数关系,进而可构建不同采样间距下结构面粗糙度系数的函数模型:4.1)Δx=0.005~0.05cm时,JRC=a1(Δx)+b1(Δx)log z2   (4)4.2)Δx=0.05~0.5cm时,JRC=a2(Δx)+b2(Δx)z2---(5)]]>其中,a1(Δx),a2(Δx)为拟合参数a1,a2关于采样间距Δx的函数,b1(Δx),b2(Δx)拟合参数b1,b2关于采样间距Δx的函数。
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