[发明专利]结构面粗糙度系数统计参数Z2有效

专利信息
申请号: 201710830389.6 申请日: 2017-09-13
公开(公告)号: CN107577884B 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 黄曼;马成荣;杜时贵;夏才初;罗战友;马文会;许强 申请(专利权)人: 绍兴文理学院
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F119/00;G01N33/24
代理公司: 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 代理人: 王利强
地址: 312000 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 结构 粗糙 系数 统计 参数 base sub
【权利要求书】:

1.一种结构面粗糙度系数统计参数Z2与采样间距关系模型的构建方法,其特征在于:所述方法包括如下步骤:

1)选取Barton标准轮廓线的高像素图片,通过AutoCAD的光栅图像参照功能重绘得到轮廓线,保存为图片格式;

2)根据1)中得到的结构面轮廓线信息,设置不同的采样间距Δx,按照如下公式计算出对应的粗糙度统计参数Z2

其中,L为标准轮廓线的水平长度;Δx为第i+1条标准轮廓线xi+1和第i条标准轮廓线xi之间的距离,即采样间距;yi为第i条标准轮廓线xi的高度,yi+1为第i+1条标准轮廓线xi+1的高度;

3)分别对不同采样间距下,结构面粗糙度系数JRC与统计参数Z2之间的关系进行拟合:

当采样间距趋于0.005~0.05cm时,JRC与log z2拟合程度较好;当采样间距趋于0.05~0.5cm时,JRC与拟合程度较好;所以构建以下模型:

Δx=0.005~0.05cm时,

JRC=a1+b1 log z2 (2)

Δx=0.05~0.5cm时,

其中,a1、b1;a2、b2为拟合参数;

4)探索拟合参数a1、b1;a2、b2与采样间距Δx之间的函数关系,进而可构建不同采样间距下结构面粗糙度系数的函数模型:

4.1)Δx=0.005~0.05cm时,

JRC=a1(Δx)+b1(Δx)logz2 (4)

4.2)Δx=0.05~0.5cm时,

其中,a1(Δx),a2(Δx)为拟合参数a1,a2关于采样间距Δx的函数,b1(Δx),b2(Δx)为拟合参数b1,b2关于采样间距Δx的函数。

2.如权利要求1所述的结构面粗糙度系数统计参数Z2与采样间距关系模型的构建方法,其特征在于:所述步骤4)中,

从而构建结构面粗糙度系数与采样间距的函数模型如下:

4.1)Δx=0.005~0.05cm时,

a1(Δx)=27.95Δx-0.03

b1(Δx)=21.46Δx-0.11

4.2)Δx=0.05~0.5cm时,

a2(Δx)=-7.02Δx-0.32

b2(Δx)=57.39Δx0.04

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