[发明专利]半导体封装及用于制造半导体封装的方法在审

专利信息
申请号: 201710815735.3 申请日: 2017-09-12
公开(公告)号: CN109148386A 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: 博恩·卡尔·艾皮特 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/498;H01L21/56
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 萧辅宽
地址: 中国台湾高雄*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明揭示一种半导体封装,其包含至少一个半导体元件、封装体、第一电路、第二电路及至少一个第一柱状凸块。所述封装体覆盖所述半导体元件的至少一部分。所述封装体具有第一表面以及与所述第一表面相对的第二表面。所述第一电路安置成邻近于所述封装体的所述第一表面。所述第二电路安置成邻近于所述封装体的所述第二表面。所述第一柱状凸块安置在所述封装体中,且电连接所述第一电路及所述第二电路。所述第一柱状凸块直接接触所述第二电路。
搜索关键词: 封装体 电路 半导体封装 第一表面 柱状凸块 半导体元件 第二表面 安置 邻近 电连接 覆盖 制造
【主权项】:
1.一种半导体封装,其包括:至少一个半导体元件;封装体,其覆盖所述半导体元件的至少一部分,所述封装体具有第一表面及与所述第一表面相对的第二表面;第一电路,其安置成邻近于所述封装体的所述第一表面;第二电路,其安置成邻近于所述封装体的所述第二表面;以及至少一个第一柱状凸块,其安置在所述封装体中,且电连接所述第一电路及所述第二电路,其中所述第一柱状凸块直接接触所述第二电路。
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