[发明专利]一种线宽量测和问题评估的方法有效

专利信息
申请号: 201710797215.4 申请日: 2017-09-06
公开(公告)号: CN107479334B 公开(公告)日: 2019-08-23
发明(设计)人: 陈巧丽;王艳云;杨正凯 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 智云
地址: 201203 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提出一种智能化线宽量测和问题评估的方法,包括:输入线宽量测方案,输入全部量测标识信息,输入相应线宽目标上下限和异常评估标准,完成数据收集,量测中每得到一个量测值,自动与目标上下限对比,超出的数据点被标记为问题点,根据评估标准,判断是否需增加数据收集方案,若问题点所占比例超过设定值,则生成线宽异常报告,若比例在设定值范围内,根据评估标准判断需将哪些量测标识纳入新的数据收集方案进行量测,若新得到的量测数据中还有问题点,将其标记,直到量测数据均落在目标上下限范围内,生成线宽问题和影响程度报告。本发明可减少确定线宽问题范围的时间,一次性得到线宽问题和影响程度,便于工程师判断并采取下一步处理方案。
搜索关键词: 一种 线宽量测 问题 评估 方法
【主权项】:
1.一种线宽量测和问题评估的方法,其特征在于,包括下列步骤:输入正常的固定的线宽量测方案;输入晶圆上全部可用的线宽量测标识的信息;输入相应的线宽的目标上下限以及线宽异常评估标准;完成正常的固定的线宽数据收集,量测过程中,每得到一个量测标识的量测值,系统自动将其与目标上下限对比,如果量测值均在目标上下限范围内,则直接生成线宽报告,如果有超出目标上下限的数据点,则将其标记出来开始下一步骤;针对标记出来的问题点,系统根据评估标准,自动判断是否需要增加新的数据收集方案,如果问题点所占比例超过设定值,则直接生成线宽异常报告,如果比例在设定值范围内,则开始下一步骤;系统再根据评估标准自动判断需要将哪些量测标识纳入新的数据收集方案进行量测,如果新得到的量测数据均在目标上下限范围内,则开始下一步骤,如果新得到的量测数据中还是有超出目标上下限的问题点,则再将其标记出来,重复本步骤;所述线宽异常评估标准从晶圆总体层面出发,设定了一个距离问题点的距离,在该距离范围内的与问题点相同种类的量测标识会被纳入新的数据收集方案,该距离基于不同的量测标识分布密度进行设定;以此类推,直到线宽的量测数据均落在目标上下限范围内,生成线宽问题和问题影响程度报告。
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