[发明专利]电子封装体的定位方法有效
| 申请号: | 201710791097.6 | 申请日: | 2017-09-05 |
| 公开(公告)号: | CN107680929B | 公开(公告)日: | 2019-12-03 |
| 发明(设计)人: | 乔威;吴天准;肜新伟;杨汉高 | 申请(专利权)人: | 深圳先进技术研究院 |
| 主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68 |
| 代理公司: | 44202 广州三环专利商标代理有限公司 | 代理人: | 郝传鑫;熊永强<国际申请>=<国际公布> |
| 地址: | 518055 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | 本发明公布了一种电子封装体的定位方法,包括:在所述第四表面粘贴第一胶膜,所述第一胶膜覆盖所述固定孔在所述第四表面的孔口;将所述第三表面与所述第一表面朝向同一个方向,水平旋转所述电子封装体至所述第一焊点与所述定位标识对齐;翻转所述电子封装体,使所述第三表面与所述第二表面朝向同一个方向;将所述电子封装体放置于所述固定孔中,并且所述第一表面贴合所述第一胶膜;在所述第三表面粘贴第二胶膜,并且所述第二表面贴合所述第二胶膜;剥离所述第一胶膜;提供测试座,所述测试座包括与所述过渡基板的轮廓形状相同的安装槽,将所述电子封装体和所述过渡基板插入所述安装槽。该定位方式简单易实现,且定位准确性高。 | ||
| 搜索关键词: | 胶膜 电子封装体 表面粘贴 第二表面 第一表面 过渡基板 安装槽 测试座 固定孔 贴合 焊点 定位准确性 定位标识 定位方式 轮廓形状 水平旋转 对齐 翻转 孔口 剥离 覆盖 | ||
【主权项】:
1.一种电子封装体的定位方法,其特征在于,包括:/n提供电子封装体和过渡基板,所述电子封装体包括相对设置的第一表面与第二表面,所述第一表面设有第一焊点,所述过渡基板的轮廓形状为非圆形,所述过渡基板包括相对设置的第三表面与第四表面及贯穿所述第三表面与所述第四表面的固定孔,所述第三表面上设有定位标识,/n在所述第四表面粘贴第一胶膜,所述第一胶膜覆盖所述固定孔在所述第四表面的孔口;/n将所述第三表面与所述第一表面朝向同一个方向,水平旋转所述电子封装体至所述第一焊点与所述定位标识对齐;/n翻转所述电子封装体,使所述第三表面与所述第二表面朝向同一个方向;/n将所述电子封装体放置于所述固定孔中,并且所述第一表面贴合所述第一胶膜;/n在所述第三表面粘贴第二胶膜,并且所述第二表面贴合所述第二胶膜;/n剥离所述第一胶膜;/n提供测试座,所述测试座包括与所述过渡基板的轮廓形状相同的安装槽,将所述电子封装体和所述过渡基板插入所述安装槽。/n
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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