[发明专利]一种集成电路测试用仓库不良品放置架

摘要

本发明涉及一种放置架，尤其涉及一种集成电路测试用仓库不良品放置架。本发明要解决的技术问题是提供一种能够对不良集成电路产品进行有效的归类放置的集成电路测试用仓库不良品放置架。为了解决上述技术问题，本发明提供了这样一种集成电路测试用仓库不良品放置架，包括有放置架等；放置架内连接有放置机构，放置架的左端连接有警示机构。本发明达到了能够对不良集成电路产品进行有效的归类放置的效果。

主权项

1.一种集成电路测试用仓库不良品放置架，其特征在于，包括有放置架(1)、放置机构(2)和警示机构(3)，放置架(1)内连接有放置机构(2)，放置架(1)的左端连接有警示机构(3)；放置机构(2)包括有第一滑轨(201)、第一滑块(202)、夹块(203)、连接杆(205)和第一隔板(206)，放置架(1)上壁与下壁内均上下对称连接有第一滑轨(201)，上壁与下壁上下两侧的第一滑轨(201)上滑动式均匀连接有第一滑块(202)，第一滑块(202)均与上壁与下壁上下两侧的第一滑轨(201)配合，第一滑轨(201)上的第一滑块(202)的数量均为四，上壁与下壁上下两侧的第一滑块(202)之间均连接有连接杆(205)，连接杆(205)的数量为四，放置架(1)左右两壁中部之间连接有第一隔板(206)，第一隔板(206)的顶部、下部与上下两侧的连接杆(205)和第一滑块(202)连接处的两端上表面均匀连接有夹块(203)，夹块(203)上均开有第一凹槽(204)。