[发明专利]一种集成电路测试用仓库不良品放置架

说明书

本发明涉及一种放置架，尤其涉及一种集成电路测试用仓库不良品放置架。本发明要解决的技术问题是提供一种能够对不良集成电路产品进行有效的归类放置的集成电路测试用仓库不良品放置架。为了解决上述技术问题，本发明提供了这样一种集成电路测试用仓库不良品放置架，包括有放置架等；放置架内连接有放置机构，放置架的左端连接有警示机构。本发明达到了能够对不良集成电路产品进行有效的归类放置的效果。

技术领域

本发明涉及一种放置架，尤其涉及一种集成电路测试用仓库不良品放置架。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母“IC”表示。集成电路发明者为杰克·基尔比(基于锗(Ge)的集成电路)和罗伯特·诺伊思(基于硅(Si)的集成电路)。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路。

目前电子市场几乎霸占了半壁江山，集成电路的生产是核心，然而生产过程中难免会有不良产品，生产厂家不能有效得将这些不良产品进行规划放置，缺少一种能够对不良产品进行归类放置的放置架，导致不良集成电路的乱丢乱放，对不良集成电路的再回收利用造成严重的困难。

因此亟需研发一种能够对不良集成电路产品进行有效的归类放置的集成电路测试用仓库不良品放置架，来克服现有技术中放置架不能有效的将不良集成电路进行有效的归类放置，导致不良集成电路的乱丢乱放，对不良集成电路的再回收利用造成严重的困难的缺点。

发明内容

(1)要解决的技术问题

本发明为了克服现有技术中放置架不能有效的将不良集成电路进行有效的归类放置，导致不良集成电路的乱丢乱放，对不良集成电路的再回收利用造成严重的困难的缺点，本发明要解决的技术问题是提供一种能够对不良集成电路产品进行有效的归类放置的集成电路测试用仓库不良品放置架。

(2)技术方案

为了解决上述技术问题，本发明提供了这样一种集成电路测试用仓库不良品放置架，包括有放置架、放置机构和警示机构，放置架内连接有放置机构，放置架的左端连接有警示机构。

优选地，放置机构包括有第一滑轨、第一滑块、夹块、连接杆和第一隔板，放置架上壁与下壁内均上下对称连接有第一滑轨，上壁与下壁上下两侧的第一滑轨上滑动式均匀连接有第一滑块，第一滑块均与上壁与下壁上下两侧的第一滑轨配合，第一滑轨上的第一滑块的数量均为四，上壁与下壁上下两侧的第一滑块之间均连接有连接杆，连接杆的数量为四，放置架左右两壁中部之间连接有第一隔板，第一隔板的顶部、下部与上下两侧的连接杆和第一滑块连接处的两端上表面均匀连接有夹块，夹块上均开有第一凹槽。

优选地，警示机构包括有警示框、橡胶板、第一弹簧、移动杆和第二隔板，放置架的左端连接有警示框，警示框的左壁内与放置架的左端之间均匀连接有第二隔板，第二隔板的数量为三块，三块第二隔板的顶部中间、底部中间和警示框顶壁与底壁中间均开有第二凹槽，警示框的左壁上均匀开有四个通孔，四个通孔内均设有移动杆，四根移动杆均穿过警示框的左壁上的四个通孔，四根移动杆的右端均连接有橡胶板，四块橡胶板的左端与警示框左壁内之间均上下对称连接有两根第一弹簧。

优选地，还包括有连接块、安装块和万向轮，放置架的底部前后左右四侧均连接有连接块，前后左右四侧连接块的底部均连接有安装块，前后左右四侧安装块上均转动式连接有万向轮。

优选地，还包括有箱盖、把手和磁块，警示框的顶部中间通过合页连接的方式连接有箱盖，箱盖的后壁中部连接有把手，箱盖的前壁上部最左侧连接有磁块。