[发明专利]泊松反射率及泊松流体反射率的求取方法及地层分析方法有效
| 申请号： | 201710660523.2 | 申请日： | 2017-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN107479104B | 公开（公告）日： | 2019-03-26 |
| 发明（设计）人： | 刘力辉 | 申请（专利权）人： | 成都晶石石油科技有限公司 |
| 主分类号： | G01V5/08 | 分类号： | G01V5/08 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 田甜 |
| 地址： | 610000 四川省成都市高*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种泊松反射率及泊松流体反射率的求取方法及地层分析方法，包括以下步骤：A、获得测井资料以计算纵波阻抗和横波阻抗；B、根据纵波阻抗、横波阻抗及岩性或物性资料交会分析得到泊松阻抗参数C；C、根据泊松阻抗参数C计算泊松角度θ或泊松角对应的射线参数P值；D、对叠前道集资料进行泊松角度部分叠加求得泊松反射率剖面。其提供一种方法求得泊松反射率剖面及泊松流体反射率，提高岩性预测工作的准确性和快速性。 | ||
| 搜索关键词： | 反射率 流体 求取 方法 地层 分析 | ||
【主权项】：
1.一种泊松反射率剖面的求取方法，其特征在于，包括以下步骤：A、获得测井资料以计算纵波阻抗和横波阻抗；B、根据纵波阻抗、横波阻抗及岩性或物性资料交会分析得到泊松阻抗参数C；C、根据泊松阻抗参数C计算泊松角度或泊松角对应的射线参数P值，具体为：利用关系式将泊松阻抗参数C与入射角θ建立关联，并使泊松阻抗等于该入射角对应的叠前射线弹性阻抗乘以入射角的余弦，得到计算泊松角对应的射线参数P值；D、对叠前道集资料进行泊松角度部分叠加求得泊松反射率剖面。
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