[发明专利]泊松反射率及泊松流体反射率的求取方法及地层分析方法

权利要求书

1.一种泊松反射率剖面的求取方法，其特征在于，包括以下步骤：

A、获得测井资料以计算纵波阻抗和横波阻抗；

B、根据纵波阻抗、横波阻抗及岩性或物性资料交会分析得到泊松阻抗参数C；

C、根据泊松阻抗参数C计算泊松角度或泊松角对应的射线参数P值，具体为：利用关系式将泊松阻抗参数C与入射角θ建立关联，并使泊松阻抗等于该入射角对应的叠前射线弹性阻抗乘以入射角的余弦，得到计算泊松角对应的射线参数P值；

D、对叠前道集资料进行泊松角度部分叠加求得泊松反射率剖面。

2.根据权利要求1所述的一种泊松反射率剖面的求取方法，其特征在于，所述步骤A的具体方法为：

获得测井资料，该测井资料包括纵波速度、横波速度、密度及岩性或物性资料；

将纵波速度、横波速度分别与密度相乘得到纵波阻抗和横波阻抗。

3.根据权利要求1所述的一种泊松反射率剖面的求取方法，其特征在于，所述步骤B具体方法为：

将纵波阻抗、横波阻抗及岩性或物性资料做三维交会，通过坐标转换找到区分岩性或物性的泊松阻抗参数C。

4.根据权利要求1所述的一种泊松反射率剖面的求取方法，其特征在于，所述泊松阻抗参数C与入射角θ关联的关联式为：

其中，C＝4Vs/Vp*sin²θ，PI＝ρ*(Vp-C*Vs)，

REI_i(P)为某个角度的射线弹性阻抗，单位m/s*g/cc；AI为纵波阻抗，单位m/s*g/cc；SI为横波阻抗，单位m/s*g/cc；PI为泊松阻抗，单位m/s*g/cc；C为泊松阻抗参数，Vs为横波速度，单位m/s；Vp为纵波速度，单位m/s；ρ为密度，单位g/cc；

使泊松阻抗等于该入射角θ对应的叠前射线弹性阻抗乘以入射角θ的余弦，

根据得到泊松角度，

根据得到泊松角对应的射线参数P值。

5.根据权利要求4所述的一种泊松反射率剖面的求取方法，其特征在于，所述泊松阻抗参数C为1.378，Vp/Vs等于1.87时对应的射线域P为0.23。

6.一种泊松流体反射率剖面的求取方法，其特征在于，包括以下步骤：

采用权利要求1至5所述的方法求得泊松反射率剖面；

利用近角度叠加剖面和泊松反射率剖面求得泊松流体反射率剖面。

7.根据权利要求6所述的一种泊松流体反射率剖面的求取方法，其特征在于，所述泊松流体反射率剖面f的计算方法为将纵波阻抗对应的近角度叠加剖面与泊松阻抗对应的泊松角度下的部分叠加剖面进行相乘得到泊松流体反射率剖面，即：

8.一种地层分析方法，其特征在于，包括以下步骤：

采用权利要求1至5所述的方法求得泊松反射率剖面；

取该泊松反射率剖面的井旁道与孔隙度做交会分析以区分岩性、物性。