[发明专利]基于跟踪式激光干涉仪的定位机械的检查方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710644767.1 申请日: 2017-07-31
公开(公告)号: CN107687809B 公开(公告)日: 2020-09-08
发明(设计)人: 谷中慎一郎;奈良正之 申请(专利权)人: 株式会社三丰
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邸万奎
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的基于跟踪式激光干涉仪的定位机械的检查方法,在通过使用激光束追随后向反射器的跟踪式激光干涉仪检查定位机械时,将通过定位机械(10)测定的测定点pi、pj的位置向量正交投影在通过跟踪式激光干涉仪(30)的旋转中心M的直线gk上所得的距离Δdij,C和通过跟踪式激光干涉仪(30)测定的距离Δdij,L进行比较,评价定位机械(10)的定位精度。由此,即使不严格地配置测定点,也可以高速、高精度地进行定位机械的检查。
搜索关键词: 基于 跟踪 激光 干涉仪 定位 机械 检查 方法 装置
【主权项】:
暂无信息
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