[发明专利]一种基于硅衬底的金刚石薄膜的制备方法在审

专利信息
申请号: 201710632848.X 申请日: 2017-07-28
公开(公告)号: CN107400871A 公开(公告)日: 2017-11-28
发明(设计)人: 张景文;王进军;陈旭东;李洁琼;王晓亮;卜忍安;王宏兴;侯洵 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: C23C16/01 分类号: C23C16/01;C23C16/02;C23C16/27;C23C16/511
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司61200 代理人: 陆万寿
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于硅衬底的金刚石薄膜的制备方法,通过在硅晶圆衬底表层下形成氢层,然后再在形成氢层的硅晶圆衬底表层上生成金刚石薄膜,然后通过电化学剥离方法从硅晶圆衬底氢离子层处剥离使硅晶圆衬底和金刚石薄膜分离,形成自撑金刚石薄膜,在自撑金刚石薄膜表面形成了一层便于修复平整加工余量的硅晶圆衬底层,避免造成剥离过程中金刚石薄膜受损,通过从形成氢层的硅晶圆衬底处进行剥离,节省了硅晶圆衬底的成本,避免了硅晶圆衬底材料的浪费,可对剥离后的硅晶圆衬底重复利用,本方法简单快捷,剥离效率高,对剥离后的金刚石薄膜采用CMP抛光技术进行抛光即可得到表面完整的金刚石薄膜,大大提高了金刚石薄膜表面的平整度。
搜索关键词: 一种 基于 衬底 金刚石 薄膜 制备 方法
【主权项】:
一种基于硅衬底的金刚石薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1),在硅晶圆衬底表层下注入氢离子形成氢离子层,步骤2),在形成氢离子层的硅晶圆衬底表面上生长金刚石薄膜,步骤3),采用电化学剥离方法从硅晶圆衬底氢离子层处剥离使硅晶圆衬底和金刚石薄膜分离,形成自撑金刚石薄膜。
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