[发明专利]LED光源产品电特性参数多工位多参数综合并发测试方法及装置

摘要

本发明公开了一种LED光源产品电特性参数多工位多参数综合并发测试方法及装置，所述方法包括：选择需测试的LED工位数及各被测LED所需的电特性参数测试项目，并选择各测试项目的测试顺序；建立测试项目集与测试路径集，计算测试路径集所对应的总测试时间，并利用遗传算法，得到总测试时间最短的最优测试路径；根据最优测试路径的测试顺序，依次对各个工位的LED进行各项电参数测试。所述装置包括计算机、电源模块、电路切换控制器、工位切换控制器、电参数采集模块。本发明通过对多个LED的多个电特性参数测试项目进行调度，实现了多工位、多参数的综合测试，极大节省了检测时间，提高了测试效率。

主权项

1.LED光源产品电特性参数多工位多参数综合并发测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：步骤A、选择需测试的LED工位数及各被测LED所需的电特性参数测试项目，并选择各测试项目的测试顺序；步骤B、建立测试项目集与测试路径集，计算测试路径集所对应的总测试时间，并利用遗传算法，得到总测试时间最短的最优测试路径；步骤C、根据最优测试路径的测试顺序，依次对各个工位的LED进行各项电参数测试；所述步骤B中：设需要测试的LED总工位数为N_l，步骤A所选的第n_l个LED所需的测试项目数为N_lt，其中n_l∈[1,N_l]；若第t个测试项目包含n_lt次不间断通电，则将第t个测试项目分解为n_lt个测试项目，则有总测试任务数则测试项目集Test[N]：被测LED的N个不间断通电测试，其中，为第1个被测LED的个测试项目，为第n_l个被测LED的个测试项目，1＜n_l≤N_l；所述t∈[1,N_lt]；求测试路径集所对应的总测试时间需要先建立测试时间集T_t[N]、测试开始时间集T_s[N]、测试结束时间集T_f[n]、等待时间集T_w[N]和测试路径集P[N]；所述测试时间集T_t[N]：T_t[n]存放测试项目Test[n]所需的测试时间；测试开始时间集T_s[N]：T_s[n]存放测试项目Test[n]测试开始的时间；测试结束时间集T_f[n]：T_f[n]存放测试项目Test[n]测试结束的时间；等待时间集T_w[N]：T_w[n]＝T_s[n]‑T_f[n‑1]，第n_l个LED的次测试项目中，每两次测试之间需要一定等待时间，即T_w[n]为Test[n]与Test[n‑1]之间的等待时间，其中，测试路径集P[N]：P[n]＝i表示Test[n]在总测试项目集里第i个执行；P[n]∈[1,N]∩Z；P[n]≠P[m],n≠m,n,m∈[1,N]∩Z；P[n]‑P[n‑1]＞0，测试路径集P[N]所对应的总测试时间f(P[N])的计算公式为：其中，f(P[N])求得步骤包括：①初始化变量i＝1，n＝1，总测试时间T_total＝0；②若P[n]＝i，则执行③，若P[n]≠i，则n＝n+1，重复执行该步骤；③若T_w[n]＞0，则执行④，否则执行⑤；④若T_w[n]＞T_total‑T_f[n‑1]，则执行⑤，否则T_total＝T_f[n‑1]+T_w[n]+T_t[n]，执行⑥；⑤T_total＝T_total+T_t[n]；⑥T_f[n]＝T_total，i＝i+1，若i≤N，则令n＝1，返回②，否则，令f(P[N])＝T_total，并结束计算；利用遗传算法求最优测试路径的步骤为：①初始化种群数量为N_g＝10N，变异概率为mutrate＝0.1，建立父代测试路径集群FP[N_g][N]与子代测试路径集群SP[2N_g‑2][N]；②令变量n_g＝1，在满足测试路径集约束条件的前提下，随机生成P[N]，并令FP[n_g][N]＝P[N]，n_g＝n_g+1，若n_g≤N_g，则返回执行②，否则执行③；③对父代测试路径集群FP[N_g][N]按总测试时间从小到大的顺序进行排序，即若f(FP[n_g‑1][N])＞f(FP[n_g][N])，则交换FP[n_g‑1][N]与FP[n_g][N]，其中，n_g∈[2,N_g]；④让父代测试路径集FP[1][N]与FP[n_g][N]进行交叉，生成的子代测试路径集为SP[2n_g‑3][N]与SP[2n_g‑2][N]，n_g∈[2,N_g]；⑤对于SP[n_g][N]，n_g∈[1,2N_g‑2]，生成随机数r∈[0,1]与随机数m,n∈[1,N]，若r＜mutrate，则交换SP[n_g][n]与SP[n_g][m]的值；⑥对子代测试路径集群SP[2N_g‑2][N]按总测试时间从小到大的顺序进行排序，即若f(SP[n_g‑1][N])＞f(SP[n_g][N])，则交换SP[n_g‑1][N]与SP[n_g][N]，其中，n_g∈[2,2N_g‑2]；⑦让前N_g个子代测试路径集成为下一父代测试路径集群，即令FP[n_g][N]＝SP[n_g][N]，n_g∈[1,N_g]，设最优测试路径为P_best[N]，令P_best[N]＝FP[1][n]，若在连续10次交叉变异中f(P_best[N])未改变，则输出P_best[N]作为最优测试路径，并结束计算，否则返回执行步骤③。