[发明专利]一种电子设备良性使用状况分析检测方法及其装置在审
| 申请号： | 201710625818.6 | 申请日： | 2017-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN107831377A | 公开（公告）日： | 2018-03-23 |
| 发明（设计）人： | 郭志猛;郭柳;郑仕杰 | 申请（专利权）人： | 漳州市锦成电力设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 363000 福建省漳州*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种电子设备良性使用状况分析检测方法及其装置，该方法包括以下步骤生成电子设备出厂状态或使用状况良好状态时的原始电参数双曲线图；在一段时间内，对所述电子设备连续测试，以采集所述电子设备在该段时间内的各即时用电参数，并生成即时用电参数曲线图；对比即时和原始及各状态下的用电参数双曲线图位置，并对电子设备状态作出判别。本发明具有能快速准确地判断出电子设备当前的使用状况，帮助检测人员对使用状况异常或不合格的电子设备采取相应的措施的有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子设备 良性 使用 状况 分析 检测 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种电子设备使用良性状况分析检测方法，其特征在于：所述检测分析方法包括以下步骤：（1）生成电子设备出厂状态或使用状况良好状态时的原始电参数双曲线图；所述原始电参数双曲线图包括原始电参数上限曲线和原始电参数下限曲线；所述原始电参数上限曲线上任意点坐标为时间及在该时间点上的用电参数上限指数，原始电参数下限曲线上任意点坐标为时间及在该时间点上的用电参数下限指数；（2）在一段时间内，对所述电子设备连续测试，以采集所述电子设备在该段时间内的各实时用电参数，并生成实时用电参数曲线图；（3）对比步骤（2）和步骤（1）的用电参数曲线图；当实时用电参数曲线图位于原始电参数上限曲线和原始电参数下限曲线之间，且均未与原始电参数上限曲线和原始电参数下限曲线相交，给出所述电子设备使用良好的信号，反之给出该电子设备可能存有故障或出现老化现象的信号。
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