[发明专利]一种电子设备良性使用状况分析检测方法及其装置在审
申请号: | 201710625818.6 | 申请日: | 2017-07-27 |
公开(公告)号: | CN107831377A | 公开(公告)日: | 2018-03-23 |
发明(设计)人: | 郭志猛;郭柳;郑仕杰 | 申请(专利权)人: | 漳州市锦成电力设备有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 363000 福建省漳州*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电子设备 良性 使用 状况 分析 检测 方法 及其 装置 | ||
技术领域
本发明涉及电子设备的检测技术,特别涉及一种电子设备良性使用状况的分析检测方法及其装置。
背景技术
随着科学技术飞速的发展,各种电子设备不断的丰富并方便了大众生活。由于利用电子设备处理信息具有方便快捷、节省资源等优势,使得终端成为人们的生活或工作中不可或缺的一部分,例如 :手机、平板计算机、笔记本计算机、台式计算机等电子设备已经得到普遍应用。然而,随着电子设备的长期使用,其在硬件和软件上都有可能会产生故障及老化,这时就需要对电子设备的使用状态进行检测分析。目前,针对电子设备的使用状况检测分析,判别电子设备是否存在故障及老化的异常问题,还缺乏有效检测电子设备故障及老化的方法及其装置,因而,无法准确检测电子设备的使用状况,对使用状况异常的电子设备无法采取相应的措施。
发明内容
为了克服上述问题,本发明提供了一种电子设备良性使用状况的分析检测方法及其装置。
为实现上述目的,本发明提供的技术方案是:
第一方面,本发明提供一种电子设备良性使用状况的分析检测方法,包括以下步骤:
(1)生成电子设备出厂状态或使用状况良好状态时的原始电参数双曲线图;所述原始电参数双曲线图包括原始电参数上限曲线和原始电参数下限曲线;所述原始电参数上限曲线上任意点坐标为时间及在该时间点上的用电参数上限指数,原始电参数下限曲线上任意点坐标为时间及在该时间点上的用电参数下限指数;
(2)在一段时间内,对所述电子设备连续测试,以采集所述电子设备在该段时间内的各实时用电参数,并生成实时用电参数曲线图;
(3)对比步骤(2)和步骤(1)的用电参数曲线图;当实时用电参数曲线图位于原始电参数上限曲线和原始电参数下限曲线之间,且均未与原始电参数上限曲线和原始电参数下限曲线相交,给出所述电子设备使用良好的信号,反之给出该电子设备可能存有故障或出现老化现象的信号。
采集所述电子设备不同老化或质量等级的实验数据,包括优质状态下的用电参数双曲线图、较优状态下的用电参数双曲线图、一般状态下的用电参数双曲线图或其它状态的用电参数双曲线图;将步骤(2)中的实时用电参数曲线图与各状态下的用电参数双曲线图比对,当实时用电参数曲线图完全位于某状态下双曲线内,给出所述电子设备使用状况处于某状态的信号。
若实时用电参数曲线图均未完全落在各状态下的用电参数双曲线图,给出电子设备可能存有故障或出现老化现象的信号。
第二方面,所述的电子设备良性使用状况的分析检测装置,设有:
电源参数连续检测模块和曲线表生成模块,所述电源参数连续检测模块连接曲线表生成模块,并将电源参数连续检测模块所采集到的信息发送到曲线表生成模块。
所述的检测分析装置还设有曲线表对比模块及溢出判断模块,当对比曲线表未完全落入被比双曲线之间时,使对比曲线与下一个被比双曲线进行比对,直至对比结果为符合,判断模块输出被比符合曲线对应信息;若全部的被比曲线表均不符合,则判断模块输出质量不合格或不正常状态信息。
较佳地,所述电源参数连续检测模块设有输入电源的测试连接端和输出电源的测试连接端,所述输出电源的测试连接端串联于所述电子设备。
较佳地,所述电源参数连续检测模块有多个,并在所述电源参数连续检测模块设有多个检测组。
较佳地,所述的每一个模块设置有一个地址,模块的每一组也设置有地址,只有输入正确模块及组的地址才能正常使用。
上述技术方案的有益之处在于:
(1)通过对在一段时间内,电子设备实时的用电参数与原始电参数以及各项等级下的用电参数所转化的曲线图表进行对比,准确地判断出电子设备当前的使用状况,自动判别状态,并显示状态为良好、老化或故障,从而帮助检测人员对使用状况异常的电子设备采取相应的措施。
(2)通过采用了老化磨损程度等级的分析,在设备进行长时间工作之前,可以提醒使用者对即将损坏的部件及时更换,以避免长时间使用过程中,因中断工作而产生的巨大的成本。
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