[发明专利]一种光谱结合质谱的未知样品中元素的定量分析方法有效
| 申请号： | 201710616091.5 | 申请日： | 2017-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN107271429B | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | 丁洪斌;赵栋烨;刘佳敏;孙立影;吴鼎;张磊 | 申请（专利权）人： | 大连理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/71 | 分类号： | G01N21/71;G01N27/64 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 116024 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光谱结合质谱的未知样品中元素的定量分析方法。使用激光诱导击穿光谱结合具有引出场的飞行时间质谱(TOF)的定量分析，能够实现高探测灵敏度、实时、快速、高精度、无接触式、多元素同时检出且样品无需预处理的定量分析。其中该方法中的双波长激光，便于再次电离光碎片及分子团簇，提高质谱信号稳定性，增强激光等离子体发射光谱信号；该方法中引出场，便于提高TOF质谱分辨率以及优化信号；该方法中的飞行时间质谱，一可以对未知样品中元素进行快速判断，节省分析时间，实现实时定量分析，二可以校正基体效应以及材料表面形貌对光谱定量分析的影响，还可以探测发射光谱无法探测的暗态物种，有利于提高定量分析准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光谱 结合 未知 样品 元素 定量分析 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光谱结合质谱的未知样品中元素的定量分析方法，其特征在于，在LIBS定量分析过程中，采用发射光谱方法探测等离子体被激发和离化的成分，采用飞行时间质谱方法校正激光与样品相互作用过程中发生的基体效应与由样品表面形貌不同导致的等离子体光谱波动，并且可探测等离子体中不发光的纳米粒子、团簇暗态成分；具体包括以下步骤：/n(1)首先选择含有同种元素且浓度不同的多种标准样品，运行自动调焦模块将激光聚焦到样品表面，并保证激光功率密度>10
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