[发明专利]使用蒸发膜片的冷却孔的红外非破坏性评估在审
| 申请号： | 201710600931.9 | 申请日： | 2017-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN107643319A | 公开（公告）日： | 2018-01-30 |
| 发明（设计）人： | D.斯里尼瓦桑;J.J.博斯科;D.穆霍帕赫亚伊;P.S.迪马斯乔 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01N25/72 | 分类号： | G01N25/72 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 肖日松,傅永霄 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及使用蒸发膜片的冷却孔的红外非破坏性评估。具体而言，公开了一种用于具有至少一个冷却孔(4)的构件(2)的热检测系统(10)及方法，其使用蒸发膜片(14)以用于排出的工作流体(12)的直接蒸发冷却。工作流体(12)供应至构件(2)的至少一个内部通道(6)，其构造成从内部通道(6)按顺序穿过冷却孔(4)和设置成与构件(2)直接气密性接触的润湿的蒸发膜片(14)排出工作流体(12)。成像器(16)采集对应于排出的工作流体(12)的瞬变蒸发响应的一时间序列的图像，以确定排出的工作流体(12)的在传送穿过蒸发膜片(14)之后的多个温度值。处理器电路(20)构造成评估排出的工作流体(12)的瞬变蒸发响应。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 蒸发 膜片 冷却 红外 破坏性 评估 | ||
【主权项】：
一种用于具有至少一个冷却孔(4)的构件(2)的热检测系统(10)，包括：工作流体(12)源，其构造成将工作流体(12)供应至构件(2)的至少一个内部通道(6)，所述内部通道(6)还包括构造成从所述内部通道(6)排出工作流体(21)的多个冷却孔(4)；蒸发膜片(14)，其包括蒸发流体(28)，所述膜片(14)可除去地设置成与所述构件(2)直接接触，且构造成跨越至少一个冷却孔(4)，同时定位成基本上垂直于排出的工作流体(12)流方向；成像器(16)，其构造成采集对应于排出的工作流体(12)的瞬变蒸发响应的一时间序列的图像，其中所述蒸发响应对应于所述排出的工作流体(12)的在传送穿过所述蒸发膜片(14)之后的多个温度值；以及处理器(22)，其可操作地连接到所述成像器(16)上，所述处理器(22)包括构造成确定所述排出的工作流体(12)的瞬变蒸发响应的电路，其中所述排出的工作流体(12)流蒸发地冷却，其中所述冷却孔(4)允许足够的排出的工作流体(12)流穿过所述冷却孔(4)来满足期望的规格。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于通用电气公司，未经通用电气公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710600931.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
