[发明专利]使用蒸发膜片的冷却孔的红外非破坏性评估

权利要求书

1.一种用于具有至少一个冷却孔(4)的构件(2)的热检测系统(10)，包括：

工作流体(12)源，其构造成将工作流体(12)供应至构件(2)的至少一个内部通道(6)，所述内部通道(6)还包括构造成从所述内部通道(6)排出工作流体(21)的多个冷却孔(4)；

蒸发膜片(14)，其包括蒸发流体(28)，所述膜片(14)可除去地设置成与所述构件(2)直接接触，且构造成跨越至少一个冷却孔(4)，同时定位成基本上垂直于排出的工作流体(12)流方向；

成像器(16)，其构造成采集对应于排出的工作流体(12)的瞬变蒸发响应的一时间序列的图像，其中所述蒸发响应对应于所述排出的工作流体(12)的在传送穿过所述蒸发膜片(14)之后的多个温度值；以及

处理器(22)，其可操作地连接到所述成像器(16)上，所述处理器(22)包括构造成确定所述排出的工作流体(12)的瞬变蒸发响应的电路，其中所述排出的工作流体(12)流蒸发地冷却，其中所述冷却孔(4)允许足够的排出的工作流体(12)流穿过所述冷却孔(4)来满足期望的规格。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述工作流体(12)是选自压缩空气、氮、蒸汽、二氧化碳、和它们的混合物组成的组的至少一种流体。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述蒸发膜片(14)是选自绵纸、玛姿琳棉布、刚性纤维素蒸发介质、和它们的混合物组成的组的至少一种膜片。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述蒸发流体(28)是选自水、乙醚、乙醇、丙酮、普通溶剂、和它们的混合物组成的组的至少一种流体。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述图像中的每一个对应于多个像素，其中所述处理器进一步构造成基于所述图像中的像素的相对强度来识别所述构件(2)的外表面上的一个或多个冷却孔(4)的相应位置。

6.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述处理器(22)进一步构造成确定所述排出的工作流体(12)温度，且与一个或多个基准值比较来确定相应冷却孔(4)是否至少部分地受阻塞。

7.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述成像器(16)包括红外摄像机。

8.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括至少一个操纵器(18)，以用于操纵所述成像器(16)和所述构件(2)的相对位置和相对定向中的至少一者。

9.一种用于确定穿过构件(2)中的冷却孔(4)的工作流体(12)流率的方法，包括以下步骤：

确定所述构件(2)中的各个冷却孔(4)的自由面积和位置；

将蒸发膜片(14)附接到所述构件(2)的外表面上，使得气密性地覆盖所有冷却孔(4)，

以蒸发流体(28)连续地润湿所述蒸发膜片(14)，

将工作流体(12)供应至所述构件(2)的内部通道(6)，

从所述内部通道(6)按顺序穿过所述冷却孔(4)和蒸发膜片(14)排出所述工作流体(12)，

使用蒸发膜片(14)有效性来计算穿过各个冷却孔(4)的工作流体(12)流率，

确定所述工作流体(12)流率是否落入期望的规格内。

10.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，计算步骤包括测量进入所述内部通道(6)的工作流体(12)的干球温度和湿球温度的额外步骤。