[发明专利]一种测量卤离子对金属钝化膜影响的循环极化方法

摘要

本发明公开了一种测量卤离子对金属钝化膜影响的循环极化方法，将含有不同卤离子浓度的溶液作为电解液，将金属浸入该溶液，记录该样品的腐蚀电位Ecorr，然后以动电位极化技术以v1的扫描速度从距Ecorr‑100mV的电位Eini开始向阳极极化方向扫描，直至过钝化区的电位Et。在电位到达Et后，重新以不同的扫描速度从Eini扫描至Et。记录流经样品的相关数据，作logi‑E图，然后分析同一样品在不同的扫描速率下腐蚀电位及腐蚀电流的变化，分析相同扫描速率相同电位下不同卤离子浓度电解液中样品腐蚀电位及腐蚀电流的变化。本发明测量结果与实际钝化膜的性能具有良好的相关性，比现有技术提供了更多的信息量，是研究各种溶液中金属钝化膜失效的一个非常有效的工具。

主权项

一种测量卤离子对金属钝化膜影响的循环极化方法，其特征在于：该方法包括如下步骤：步骤a、配制n份含有不同卤离子浓度的溶液作为电解液，记卤离子浓度为c1，c2，…，cn的溶液为s1，s2，…，sn，其中卤离子浓度c1<c2<…<cn，n为大于1的自然数；步骤b、选取电解液s1将其注入电解池内，充氮气除氧15‑40分钟；以待测金属样品为工作电极，将其浸入电解液s1中与辅助电极、参比电极组成三电极体系，记录该待测金属样品的腐蚀电位Ecorr；然后用动电位极化法依次用v1， v2，…，vm的扫描速度从距Ecorr ‑100 mV的起始电位Eint开始向阳极极化方向扫描，直至过钝化区的终止电位Et，扫描速度v1< v2<…<vm， m为自然数，记录并保存相关数据；步骤c、对其它浓度的电解液（s2，s3，…，sn）重复步骤b，记录相关数据；步骤d、根据实验数据，采用相同的坐标，绘制不同扫描速率（v1， v2，…，vm）下样品的E vs log i曲线，得到样品在不同扫描速率下的极化曲线图；绘制不同卤离子浓度（c1，c2，…，cn）电解液（s1，s2，…，sn）中样品在相同扫描速率下的E vs log i曲线图，得到不同卤离子浓度电解液中样品在相同扫描速率下的极化曲线图；步骤e、对绘制的极化曲线图进行分析，获得不同卤离子浓度下腐蚀电位及腐蚀电流的变化，测量卤离子对金属钝化膜的影响。