[发明专利]一种测量卤离子对金属钝化膜影响的循环极化方法

权利要求书

1.一种测量卤离子对金属钝化膜影响的循环极化方法，其特征在于：该方法包括如下步骤：

步骤a、配制n份含有不同卤离子浓度的溶液作为电解液，记卤离子浓度为c₁，c₂，…，c_n的溶液为s₁，s₂，…，s_n，其中卤离子浓度c₁<c₂<…<c_n，n为大于1的自然数；

步骤b、选取电解液s₁将其注入电解池内，充氮气除氧15-40分钟；以待测金属样品为工作电极，将其浸入电解液s₁中与辅助电极、参比电极组成三电极体系，记录该待测金属样品的腐蚀电位E_corr；然后用动电位极化法依次用v₁， v₂，…，v_m的扫描速度从距E_corr -100 mV的起始电位E_int开始向阳极极化方向扫描，直至过钝化区的终止电位E_t，扫描速度v₁< v₂<…<v_m， m为自然数，记录并保存相关数据；

步骤c、对其它浓度的电解液（s₂，s₃，…，s_n）重复步骤b，记录相关数据；

步骤d、根据实验数据，采用相同的坐标，绘制不同扫描速率（v₁， v₂，…，v_m）下样品的Evs log i曲线，得到样品在不同扫描速率下的极化曲线图；绘制不同卤离子浓度（c₁，c₂，…，c_n）电解液（s₁，s₂，…，s_n）中样品在相同扫描速率下的E vs log i曲线图，得到不同卤离子浓度电解液中样品在相同扫描速率下的极化曲线图；

步骤e、对绘制的极化曲线图进行分析，获得不同卤离子浓度下腐蚀电位及腐蚀电流的变化，测量卤离子对金属钝化膜的影响。

2.根据权利要求1所述一种测量卤离子对金属钝化膜影响的循环极化方法，其特征在于：

所述步骤b中，在电化学工作站选择动电位极化法依次用v₁， v₂，…，v_m的扫描速度从起始电位E_int向阳极极化方向扫描，直至过钝化区的终止电位E_t，记录并保存相关数据。

3.根据权利要求1或2所述一种测量卤离子对金属钝化膜影响的循环极化方法，其特征在于：所述步骤b中，待测金属样品浸入电解液60分钟后，记录待测金属样品的腐蚀电位E_corr。

4.根据权利要求1或2所述的一种测量卤离子对金属钝化膜影响的循环极化方法，其特征在于：所述步骤b中，以待测金属样品为工作电极，以铂片或铂网为辅助电极、饱和甘汞电极或银/氯化银电极为参比电极，参比电极以盐桥与电解液相连，工作电极表面与参比电极盐桥末端的距离为3-5mm。

5.根据权利要求1或2所述一种测量卤离子对金属钝化膜影响的循环极化方法，其特征在于：所述卤离子为第ⅦA族元素中的氟、氯、溴或碘的离子，所述溶液为各种酸、碱或盐的溶液。