[发明专利]一种CdTe薄膜的热处理方法有效
申请号: | 201710568784.1 | 申请日: | 2017-07-13 |
公开(公告)号: | CN107452835B | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 沈凯;麦耀华 | 申请(专利权)人: | 暨南大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/477 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 苏运贞;刘瑜 |
地址: | 510632 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种CdTe薄膜的热处理方法。该热处理方法是将CdTe薄膜置于含磷环境中进行热处理;所述的CdTe薄膜包括CdTe单层薄膜和含CdTe的叠层薄膜;所述的含磷环境为在CdTe薄膜热处理过程中保持含磷材料的存在,可以将含磷材料存在于环境气氛中,也可以将含磷材料直接沉积在CdTe薄膜表面;所述的热处理的温度为300℃~450℃,热处理的时间为5~10分钟。利用本发明的热处理方法能显著改善CdTe薄膜的电学性能;将经过热处理的CdTe薄膜应用于CdTe薄膜太阳电池,能显著提高CdTe薄膜太阳电池的光电性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 cdte 薄膜 热处理 方法 | ||
【主权项】:
1.一种CdTe薄膜的热处理方法,其特征在于:将CdTe薄膜置于含磷环境中进行热处理;所述的含磷环境为在CdTe薄膜热处理过程中保持含磷材料的存在;所述的含磷材料通过如下任一种方式提供:(1)在CdTe薄膜表面沉积含磷薄层;(2)将CdTe薄膜置于含磷气氛中;(3)在CdTe薄膜表面沉积含磷薄层,同时置于含磷气氛中;所述的含磷材料为Cd3P2;所述的表面沉积含磷薄层为采用真空热蒸发的方法进行表面沉积含磷薄层;所述的真空热蒸发的压强为低于5×10‑4Pa;所述的热处理为在真空、惰性气体、或含氧气氛的环境中进行热处理;所述的真空环境中的压强为0.1~1Pa;所述的热处理的温度为380℃~400℃;所述的热处理的时间为5~10分钟。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于暨南大学,未经暨南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710568784.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的