[发明专利]一种数字芯片故障检测系统及其检测方法

摘要

本发明公开了一种数字芯片故障检测系统，待测数字芯片的VDD引脚、GND引脚分别通过继电器模块与电源模块的+5V引脚和GND引脚连接，各输入引脚、输出引脚分别通过模拟选择开关与电源模块的+5V引脚和GND引脚连接。单片机通过控制继电器模块、模拟选择开关，使待测数字芯片的任一引脚与+5V电源、GND端中的任一指定位置连接。本发明还公开了一种数字芯片故障检测方法，通过流经VDD引脚和GND引脚的电流大小判断待测引脚是否存在短路、开路故障，根据待测数字芯片的逻辑输出判断待测数字芯片是否存在逻辑功能故障。本发明检测速度快、检测成本低、检测结果可靠。

主权项

一种数字芯片故障检测系统，其特征在于，包括单片机和电源模块；所述电源模块的+5V引脚和GND引脚连接通过第一继电器模块与待测数字芯片的VDD引脚连接，通过第二继电器模块与待测数字芯片的GND引脚连接；所述电源模块的+5V引脚和GND引脚还通过第一模拟选择开关与待测数字芯片的各输入引脚连接，通过第二模拟选择开关与待测数字芯片的各输出引脚连接；所述待测数字芯片的VDD引脚上还连接有第一电流检测器，待测数字芯片的GND引脚上还连接有第二电流检测器；所述第一继电器模块、第二继电器模块、第一模拟选择开关、第二模拟选择开关、第一电流检测器、第二电流检测器分别与单片机的相应引脚连接；所述待测数字芯片的输出引脚还通过所述第二模拟选择开关与单片机连接；单片机通过第一继电器模块、第二继电器模块、第一模拟选择开关、第二模拟选择开关选择待测数字芯片需要检测的引脚，根据第一电流检测器、第二电流检测器输出的电流，对照故障字典判断数字芯片的各引脚是否存在短路或开路故障；根据待测数字芯片的输出引脚的逻辑输出，对照真值表判断数字芯片是否存在逻辑功能故障。