[发明专利]一种数字芯片故障检测系统及其检测方法有效
申请号: | 201710568530.X | 申请日: | 2017-07-13 |
公开(公告)号: | CN107422255B | 公开(公告)日: | 2020-06-16 |
发明(设计)人: | 华国环;费敬敬 | 申请(专利权)人: | 南京信息工程大学 |
主分类号: | G01R31/3177 | 分类号: | G01R31/3177;G01R31/317;G01R31/52;G01R31/54 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 210019 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 数字 芯片 故障 检测 系统 及其 方法 | ||
1.一种数字芯片故障检测方法,其特征在于,
将电源模块的+5V引脚和GND引脚与待测数字芯片的待测引脚、以及待测数字芯片的VDD引脚、GND引脚对应连接;通过流经数字芯片VDD引脚、GND引脚的电流大小判断待测引脚与数字芯片的VDD引脚、GND引脚之间是否存在短路或开路故障,根据待测数字芯片的逻辑输出判断待测数字芯片是否存在逻辑功能故障;
判断待测引脚与数字芯片的VDD引脚、GND引脚之间是否存在短路或开路故障的具体方法是:
将待测引脚接地,待测数字芯片的VDD引脚接+5V电源,将待测数字芯片VDD引脚输出的电压值与故障字典设定的阈值进行比较,判断待测引脚与数字芯片的VDD引脚之间是否存在短路故障的依据是:如果待测数字芯片的VDD引脚输出电压值高于设定故障字典设定的阈值,则待测引脚与数字芯片的VDD引脚之间存在短路故障,否则,待测引脚与数字芯片的VDD引脚之间不存在短路故障;
将待测引脚接+5V电源,待测数字芯片的VDD引脚接地,将待测数字芯片VDD引脚输出的电压值与故障字典设定的阈值进行比较,判断待测引脚与数字芯片的VDD引脚之间是否存在开路故障的依据是:如果待测数字芯片的VDD引脚输出电压值低于设定故障字典设定的阈值,则待测引脚与数字芯片的VDD引脚之间存在开路故障,否则,待测引脚与数字芯片的VDD引脚之间不存在开路故障;
同理:
将待测引脚接地,待测数字芯片的GND引脚接+5V电源,将待测数字芯片GND引脚输出的电压值与故障字典设定的阈值进行比较,判断待测引脚与数字芯片的GND引脚之间是否存在短路故障的依据是:如果待测数字芯片的GND引脚输出电压值高于设定故障字典设定的阈值,则待测引脚与数字芯片的GND引脚之间存在短路故障,否则,待测引脚与数字芯片的GND引脚之间不存在短路故障;
将待测引脚接+5V电源,待测数字芯片的GND引脚接地,将待测数字芯片GND引脚输出的电压值与故障字典设定的阈值进行比较,判断待测引脚与数字芯片的GND引脚之间是否存在开路故障的依据是:如果待测数字芯片的GND引脚输出电压值低于设定故障字典设定的阈值,则待测引脚与数字芯片的GND引脚之间存在开路故障,否则,待测引脚与数字芯片的GND引脚之间不存在开路故障。
2.根据权利要求1所述的数字芯片故障检测方法,其特征在于,判断待测数字芯片是否存在逻辑功能障碍的方法是:
对照数字芯片的真值表,如果待测数字芯片的实际响应与理论响应一致,则不存在逻辑故障,否则,存在逻辑故障。
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