[发明专利]双层晶体位置查找表的获取方法有效
| 申请号： | 201710560277.3 | 申请日： | 2017-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN107507164B | 公开（公告）日： | 2019-11-05 |
| 发明（设计）人： | 魏清阳;戴甜甜;马天予;江年铭;刘亚强 | 申请（专利权）人： | 北京永新医疗设备有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T11/00;G06T11/20;G01T1/29 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张润 |
| 地址： | 102206 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种双层晶体位置查找表的获取方法，包括：以表模式采集镥本底单光子事件，并根据镥本底单光子事件生成镥本底单光子事件的泛场图像I1；设置符合时间窗，得到镥本底符合事件，并根据镥本底符合事件生成镥本底符合事件的泛场图像I2；根据泛场图像I2，获取探测器环内层晶体响应顶点P1；在泛场图像I1中扣除泛场图像I2以获取探测器环外层晶体响应的泛场图像I3，并根据探测器环外层晶体响应的泛场图像I3获取探测器环外层响应顶点P2；利用探测器环内层晶体响应顶点P1和探测器环外层响应顶点P2自动生成晶体位置查找表。本发明无需引入额外的放射源就能实现双层晶体的区分，并自动生成查找表。 | ||
| 搜索关键词： | 双层 晶体 位置 查找 获取 方法 | ||
【主权项】：
1.一种双层晶体位置查找表的获取方法，其特征在于，包括以下步骤：以表模式采集镥本底单光子事件，并根据所述镥本底单光子事件生成镥本底单光子事件的泛场图像I1；设置符合时间窗，得到镥本底符合事件，并根据所述镥本底符合事件生成镥本底符合事件的泛场图像I2；根据镥本底符合事件的泛场图像I2，获取探测器环内层晶体响应顶点P1；在泛场图像I1中扣除泛场图像I2以获取探测器环外层晶体响应的泛场图像I3，并根据所述探测器环外层晶体响应的泛场图像I3获取探测器环外层响应顶点P2；利用所述探测器环内层晶体响应顶点P1和所述探测器环外层响应顶点P2自动生成晶体位置查找表。
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