[发明专利]双层晶体位置查找表的获取方法

权利要求书

1.一种双层晶体位置查找表的获取方法，其特征在于，包括以下步骤：

以表模式采集镥本底单光子事件，并根据所述镥本底单光子事件生成镥本底单光子事件的泛场图像I₁；

设置符合时间窗，得到镥本底符合事件，并根据所述镥本底符合事件生成镥本底符合事件的泛场图像I₂；

根据镥本底符合事件的泛场图像I₂，获取探测器环内层晶体响应顶点P1；

在泛场图像I₁中扣除泛场图像I₂以获取探测器环外层晶体响应的泛场图像I₃，并根据所述探测器环外层晶体响应的泛场图像I₃获取探测器环外层响应顶点P2；

利用所述探测器环内层晶体响应顶点P1和所述探测器环外层响应顶点P2自动生成晶体位置查找表。

2.根据权利要求1所述的双层晶体位置查找表的获取方法，其特征在于，所述根据所述镥本底单光子事件生成泛场图像I₁由所有镥本底单光子事件统计生成泛场图像I₁。

3.根据权利要求1所述的双层晶体位置查找表的获取方法，其特征在于，设置符合时间窗是根据探测器环晶体与晶体最大距离，以及探测器固有时间分辨率。

4.根据权利要求1所述的双层晶体位置查找表的获取方法，其特征在于，获取探测器环内层晶体响应顶点P1的方法具体包括：

获取所述泛场图像I₁在X,Y方向的投影；

根据邻域极值方法分别获取投影在X和Y方向上的预设平均峰位；

根据预设平均峰位，生成一个预设顶点阵列；

根据均值平移算法和预设顶点阵列，获取探测器环内层晶体响应顶点P1。

5.根据权利要求4所述的双层晶体位置查找表的获取方法，其特征在于，还包括：根据样条拟合、或者混合高斯拟合、或者均值平移算法，获取探测器环内层晶体响应顶点P1。

6.根据权利要求1所述的双层晶体位置查找表的获取方法，其特征在于，在泛场图像I₁中扣除泛场图像I₂以获取探测器环外层晶体响应的泛场图像I₃，公式为：

其中，C₁、C₂分别为泛场图像I₁和泛场图像I₂总计数，ρ是一个0～1的数。

7.根据权利要求1所述的双层晶体位置查找表的获取方法，其特征在于，根据所述探测器环外层晶体响应的泛场图像I₃获取探测器环外层响应顶点P2具体包括：

获取所述泛场图像I₂在X,Y方向的投影；

根据邻域极值方法分别获取投影在X和Y方向上的预设平均峰位；

根据预设平均峰位，生成一个预设顶点阵列；

根据均值平移算法和预设顶点阵列，获取探测器环内层晶体响应顶点P2。

8.根据权利要求1所述的双层晶体位置查找表的获取方法，其特征在于，利用所述探测器环内层晶体响应顶点P1和所述探测器环外层响应顶点P2生成晶体位置查找表，具体包括：

计算泛场图像中各像素与带晶体编号的P1和P2中的每个响应顶点的距离，以具有最小距离的响应顶点所带的晶体编号作为泛场图像中的像素的晶体编号。

9.根据权利要求4或7所述的双层晶体位置查找表的获取方法，其特征在于，还包括：对错误顶点进行修正。