[发明专利]基于结构光的微纳结构二维超分辨检测方法在审
| 申请号： | 201710559048.X | 申请日： | 2017-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN107388958A | 公开（公告）日： | 2017-11-24 |
| 发明（设计）人： | 陈楚怡;谢仲业;周毅;唐燕 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G01B9/02 | 分类号： | G01B9/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610209 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于结构光的微纳结构二维超分辨检测方法，包括当投影装置中无光栅时，摄像装置获取一帧灰度图，在其他条件不变的情况下，在投影装置中加入光栅，摄像装置获取一帧条纹变形的结构光场图。分别对两幅图进行Fourier变换，将得到的两频谱式归一化相减后得到基频分量，将分离得到的两部分基频分量分别频移至正确位置，再将基频与零频分量以一定权重进行频谱叠加，从而得到完整的频谱信息，最终恢复得到二维超分辨图像检测结果。本发明该方法在提高了分辨力的同时，在测量中采用一帧灰度图来消除频谱混叠，实现零频分量与基频分量的分离，提高了测量效率，采集图像时不需要相移装置，简化了测量系统。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 结构 二维 分辨 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于结构光的微纳结构二维超分辨检测方法，其特征是：当投影装置中无光栅时，摄像装置获取一帧灰度图，在其他条件不变的情况下，在投影装置中加入光栅，摄像装置获取一帧条纹变形的结构光场图；分别对两幅图进行Fourier变换，将得到的两频谱式归一化相减后得到基频分量，将分离得到的两部分基频分量分别频移至正确位置，再将基频与零频分量以一定权重进行频谱叠加，从而得到完整的频谱信息，最终恢复得到二维超分辨图像检测结果。
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