[发明专利]基于结构光的微纳结构二维超分辨检测方法

权利要求书

1.一种基于结构光的微纳结构二维超分辨检测方法，其特征是：当投影装置中无光栅时，摄像装置获取一帧灰度图，在其他条件不变的情况下，在投影装置中加入光栅，摄像装置获取一帧条纹变形的结构光场图；分别对两幅图进行Fourier变换，将得到的两频谱式归一化相减后得到基频分量，将分离得到的两部分基频分量分别频移至正确位置，再将基频与零频分量以一定权重进行频谱叠加，从而得到完整的频谱信息，最终恢复得到二维超分辨图像检测结果。

2.根据权利要求1所述的一种基于结构光微纳结构二维超分辨检测方法，其特征是：利用FTP测量系统，系统包括投影装置，摄像装置，光栅和参考面，通过DMD产生光栅条纹，CCD获取图像，利用结构光条纹受待测物体高度调制发生形变的特性，得到两幅光场图。

3.根据权利要求1所述的一种基于结构光微纳结构二维超分辨检测方法，其特征是：对CCD采集到的两幅图的光场公式进行二维Fourier变换后可以看出，两频谱式的零频分量只相差一个常数的比例因子，对两式归一化后相减，可得到基频分量，从而使基频分量与零频分量分离。

4.根据权利要求1所述的一种基于结构光微纳结构二维超分辨检测方法，其特征是：基频与零频分离后，在频谱移动前还需对基频的两部分再进行分离，之后将对称的两部分基频分别移动，最后与零频分量叠加。

5.根据权利要求1所述的一种基于结构光微纳结构二维超分辨检测方法，其特征是：传统显微成像系统最终接收到的图像受显微镜数值孔径限制，在频域丢失高频信息，本方法利用结构光将本不在接收频率范围内的高频信息调制到低频，通过频谱分离，频谱移动，频谱叠加三个步骤得到了完整的频谱信息。