[发明专利]一种用于微波等离子体炬发射光谱的固体进样分析系统在审
| 申请号： | 201710535341.2 | 申请日： | 2017-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN107271428A | 公开（公告）日： | 2017-10-20 |
| 发明（设计）人： | 张勇;王世功;赵珍阳;史磊;田中朝;许玉兴;赵玉新 | 申请（专利权）人： | 山东东仪光电仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/71 | 分类号： | G01N21/71 |
| 代理公司： | 北京中索知识产权代理有限公司11640 | 代理人： | 宋涛 |
| 地址： | 264670 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明适用于固体样品元素含量分析技术领域，提供了一种用于微波等离子体炬发射光谱的固体进样分析系统，包括激光器，用于输出预定波长的激光；光学扩束装置，用于将激光扩散处理；光路调节装置，用于将扩散处理后的激光光束按预定角度反射和/或将可见光透射处理；光学聚焦装置，用于将激光光束聚焦处理后传送到样品室；样品室，用于放置样品，并接收聚焦后的激光对样品进行烧蚀处理；成像处理装置，用于将所述光路调节装置透射处理后的可见光成像处理。本发明具有无需样品前处理，固体样品直接分析，分析速度快，分析灵敏度高等特点，可用于冶金、地质、硅酸盐等工业领域的固体或粉末样品快速元素含量分析。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 微波 等离子体 发射光谱 固体 分析 系统 | ||
【主权项】：
一种用于微波等离子体炬发射光谱的固体进样分析系统，其特征在于，包括：激光器，用于输出预定波长的激光；光学扩束装置，用于将激光扩散处理；光路调节装置，用于将扩散处理后的激光光束按预定角度反射和/或将可见光透射处理；光学聚焦装置，用于将激光光束聚焦处理后传送到样品室；样品室，用于放置样品，并接收聚焦后的激光对样品进行烧蚀处理；成像处理装置，用于将所述光路调节装置透射处理后的可见光成像处理。
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