[发明专利]一种光电二极管、X射线探测器及其制备方法在审
| 申请号: | 201710532863.7 | 申请日: | 2017-07-03 |
| 公开(公告)号: | CN107342346A | 公开(公告)日: | 2017-11-10 |
| 发明(设计)人: | 赵磊 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/115 | 分类号: | H01L31/115;H01L31/18 |
| 代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 | 代理人: | 柴亮,张天舒 |
| 地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | 本发明提供一种光电二极管、X射线探测器及其制备方法,属于半导体制造技术领域,其可解决现有的直接转化型X射线平板探测器的暗电流大,开关比低,器件电信号噪声大的问题。本发明的光电二极管包括多个结构层,其中在第二结构层与第四结构层分别掺杂不同的掺杂剂,其作用是提高光电二极管的转化效率,降低光电二极管暗电流,提高其开关比,实现对光电二极管性能的有效控制。本发明的光电二极管适用于各种X射线探测器。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 光电二极管 射线 探测器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种光电二极管,其特征在于,包括:衬底;位于衬底之上的第一结构层;位于第一结构层之上的第二结构层,所述第二结构层具有第一掺杂剂;位于第二结构层之上的第三结构层;位于第三结构层上的第四结构层,所述第四结构层具有第二掺杂剂;一对电极,其中第一电极与所述第一结构层和第二结构层连接,且第二电极位于第四结构层之上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





