[发明专利]一种磁纳米颗粒检测装置在审
| 申请号： | 201710502189.8 | 申请日： | 2017-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN107462847A | 公开（公告）日： | 2017-12-12 |
| 发明（设计）人： | 张晓东;于阳;王明 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电工研究所 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12;G01N27/74 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司11251 | 代理人： | 关玲 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种磁纳米颗粒检测装置，包括由电源、线圈系统和信号数据处理系统组成。电源的输出端与线圈系统相连；线圈系统由偏置磁场发生线圈(3)、低频激励磁场发生线圈(4)、高频激励磁场发生线圈(5)和感应线圈(6)组成。感应线圈(6)的一端与信号数据处理系统输入端相连，输出检测信号。信号数据处理系统的前置放大器的输出端与数据采集分析装置的输入端相连。偏置磁场发生线圈(3)、低频激励磁场发生线圈(4)、高频激励磁场发生线圈(5)和感应线圈(6)共轴同心嵌套。偏置磁场发生线圈(3)、低频激励磁场发生线圈(4)和高频激励磁场发生线圈(5)产生的磁场在线圈中心叠加形成磁纳米颗粒检测磁场，位于感应线圈(6)的一侧。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 颗粒 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种磁纳米颗粒检测装置，其特征在于：所述的检测装置包括电源、线圈系统和信号数据处理系统；电源的输出端与线圈系统相连，所述的线圈系统由偏置磁场发生线圈(3)、低频激励磁场发生线圈(4)、高频激励磁场发生线圈(5)和感应线圈(6)组成；感应线圈(6)的一端与信号数据处理系统输入端相连，输出检测信号；所述的信号数据处理系统由前置放大器和数据采集分析装置组成，前置放大器的输出端与数据采集分析装置的输入端相连；所述的偏置磁场发生线圈(3)、低频激励磁场发生线圈(4)、高频激励磁场发生线圈(5)和感应线圈(6)共轴嵌套，四个线圈的几何中心重合于一点；偏置磁场发生线圈(3)、低频激励磁场发生线圈(4)和高频激励磁场发生线圈(5)产生的磁场在线圈系统中心叠加形成磁纳米颗粒检测磁场，磁纳米颗粒检测区位于感应线圈(6)的一侧。
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