[发明专利]一种磁纳米颗粒检测装置在审
| 申请号: | 201710502189.8 | 申请日: | 2017-06-27 |
| 公开(公告)号: | CN107462847A | 公开(公告)日: | 2017-12-12 |
| 发明(设计)人: | 张晓东;于阳;王明 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电工研究所 |
| 主分类号: | G01R33/12 | 分类号: | G01R33/12;G01N27/74 |
| 代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司11251 | 代理人: | 关玲 |
| 地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 纳米 颗粒 检测 装置 | ||
1.一种磁纳米颗粒检测装置,其特征在于:所述的检测装置包括电源、线圈系统和信号数据处理系统;电源的输出端与线圈系统相连,所述的线圈系统由偏置磁场发生线圈(3)、低频激励磁场发生线圈(4)、高频激励磁场发生线圈(5)和感应线圈(6)组成;感应线圈(6)的一端与信号数据处理系统输入端相连,输出检测信号;所述的信号数据处理系统由前置放大器和数据采集分析装置组成,前置放大器的输出端与数据采集分析装置的输入端相连;所述的偏置磁场发生线圈(3)、低频激励磁场发生线圈(4)、高频激励磁场发生线圈(5)和感应线圈(6)共轴嵌套,四个线圈的几何中心重合于一点;偏置磁场发生线圈(3)、低频激励磁场发生线圈(4)和高频激励磁场发生线圈(5)产生的磁场在线圈系统中心叠加形成磁纳米颗粒检测磁场,磁纳米颗粒检测区位于感应线圈(6)的一侧。
2.根据权利要求1所述的磁纳米颗粒检测装置,其特征在于:偏置磁场发生线圈(3)为亥姆霍兹线圈结构,低频激励磁场发生线圈(4)为亥姆霍兹线圈或空心圆柱线圈结构,高频激励磁场发生线圈(5)为亥姆霍兹线圈或空心圆柱线圈结构,感应线圈(6)采用差分结构。
3.根据权利要求1所述的磁纳米颗粒检测装置,其特征在于:所述的直流电源驱动偏置磁场发生线圈(3)产生偏置磁场H;低频信号发生装置和第一功率放大电路(1)连接组成低频交流电源,低频信号发生装置产生低频交变信号,经第一功率放大电路(1)驱动低频激励磁场发生线圈(4)产生低频交变磁场Hf1;高频信号发生装置和第二功率放大电路(2)组成高频交流电源,高频信号发生装置产生低频交变信号,经第二功率放大电路(2)驱动高频激励磁场发生线圈(5)产生高频交变磁场Hf2;偏置磁场H、低频磁场Hf1和高频磁场Hf2在线圈系统中心叠加形成磁纳米颗粒检测激励磁场;磁纳米颗粒在磁纳米颗粒检测激励磁场中被磁化,利用感应线圈(6)检测磁纳米颗粒磁化信号输出电压信号;信号数据处理系统对电压信号进行处理分析,输出检测结果。
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