[发明专利]一种用于密绕型超导线圈降温过程中线圈温度测量的方法在审
| 申请号： | 201710494902.9 | 申请日： | 2017-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN107084800A | 公开（公告）日： | 2017-08-22 |
| 发明（设计）人： | 邹春龙;刘旭峰;杜双松;胡锐;丁开忠;吴振林;陈永华;杨庆喜;宋云涛;陈根 | 申请（专利权）人： | 合肥中科离子医学技术装备有限公司 |
| 主分类号： | G01K7/16 | 分类号： | G01K7/16;H01F6/06 |
| 代理公司： | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙)11390 | 代理人： | 胡剑辉 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于密绕型超导线圈降温过程中线圈温度测量的方法，该方法包括下述步骤理论计算超导线圈整体电阻与温度直接的关系，得出R‑T关系式；线圈降温过程中每隔30分钟通过测量装置对线圈电阻进行测量一次；将线圈的测量电阻与R‑T关系式进行对比，计算线圈的实时温度；将线圈的整体温度反馈给低温系统，从而调节降温方案；实时拟合线圈温度和电阻的关系式，观测线圈降温曲线。本发明提出通过测量超导线圈电阻的方式对线圈温度进行整体测量，通过在电流引线的端头处测量线圈的电阻值，再根据温度与电阻之间的关系式，计算线圈的实时温度，从而测量线圈整体的温度，实现对线圈温度的实时测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 密绕型 超导 线圈 降温 过程 温度 测量 方法 | ||
【主权项】：
一种用于密绕型超导线圈降温过程中线圈温度测量的方法，其特征在于：该方法包括下述步骤：(1)理论计算超导线圈整体电阻与温度直接的关系，得出R‑T关系式；(2)线圈降温过程中每隔30分钟通过测量装置对线圈电阻进行测量一次；(3)将线圈的测量电阻与R‑T关系式进行对比，计算线圈的实时温度；(4)将线圈的整体温度反馈给低温系统，从而调节降温方案；(5)实时拟合线圈温度和电阻的关系式，观测线圈降温曲线。
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